SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

フィルター

並び替え:

1625 製品

E13000 - SEMI E130 - 300 mm 環境用プローバ特定機器モデルの仕様 (PSEM300)
SEMI E130 - 300 mm 環境用プローバ特定機器モデルの仕様 (PSEM300) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E11200 - SEMI E112 - 複数の 6 インチ レチクルの輸送および保管に使用される 150 mm マルチ レチクル SMIF ポッド (MRSP150) の仕様
SEMI E112 - 複数の 6 インチ レチクルの輸送および保管に使用される 150 mm マルチ レチクル SMIF ポッド (MRSP150) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05411 - SEMI E54.11 - エンドポイント デバイスのセンサー/アクチュエーター ネットワーク固有のデバイス モデルの仕様
SEMI E54.11 - エンドポイント デバイスのセンサー/アクチュエーター ネットワーク固有のデバイス モデルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F10400 - SEMI F104 - 超純水および液体化学薬品供給システムで使用されるコンポーネントの粒子寄与率を評価するための試験方法
SEMI F104 - 超純水および液体化学薬品供給システムで使用されるコンポーネントの粒子寄与率を評価するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11100 - SEMI F111 - 機器ファンフィルターユニット (EFFU) 粒子除去の試験方法
SEMI F111 - 機器ファンフィルターユニット (EFFU) 粒子除去の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D06300 - SEMI D63 - FPD カラーフィルターの偏光解消効果の試験方法
SEMI D63 - FPD カラーフィルターの偏光解消効果の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F05300 - SEMI F53 - サーマルマスフローコントローラーの電磁感受性を評価するための試験方法
SEMI F53 - サーマルマスフローコントローラーの電磁感受性を評価するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05600 - SEMI E56 - サーマルマスフローコントローラの精度、直線性、再現性、短期再現性、ヒステリシス、および不感帯を決定するための試験方法
SEMI E56 - サーマルマスフローコントローラの精度、直線性、再現性、短期再現性、ヒステリシス、および不感帯を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05100 - SEMI E51 - 典型的な施設サービスと終了マトリックスのガイド
SEMI E51 - 典型的な施設サービスと終了マトリックスのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E01200 - SEMI E12 - マスフローメータおよびマスフローコントローラで使用される標準化された圧力、温度、密度、および流量単位のガイド
SEMI E12 - マスフローメータおよびマスフローコントローラで使用される標準化された圧力、温度、密度、および流量単位のガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E09400 - SEMI E94 - 制御ジョブ管理の仕様
SEMI E94 - 制御ジョブ管理の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
F02800 - SEMI F28 - プロセスパネルからの粒子発生を測定するための試験方法F02800 - SEMI F28 - プロセスパネルからの粒子発生を測定するための試験方法
SEMI F28 - プロセスパネルからの粒子発生を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F08000 - SEMI F80 - ガス供給システムのガス交換/パージ効率を測定するための試験方法
SEMI F80 - ガス供給システムのガス交換/パージ効率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E17500 - SEMI E175 - サブシステム省エネモード通信（SESMC）の仕様
SEMI E175 - サブシステム省エネモード通信（SESMC）の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05700 - SEMI E57 - 300 mm ウェーハキャリアの位置合わせとサポートに使用されるキネマティックカップリングの仕様
SEMI E57 - 300 mm ウェーハキャリアの位置合わせとサポートに使用されるキネマティックカップリングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E09900 - SEMI E99 - キャリアIDリーダー/ライターの仕様
SEMI E99 - キャリアIDリーダー/ライターの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D05800 - SEMI D58 - フィールドシーケンシャルカラーディスプレイのカラーブレークアップの用語とテストパターン
SEMI D58 - フィールドシーケンシャルカラーディスプレイのカラーブレークアップの用語とテストパターン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F04900 - SEMI F49 - 半導体工場システムの電圧低下耐性ガイド
SEMI F49 - 半導体工場システムの電圧低下耐性ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F03200 - SEMI F32 - 高純度遮断バルブの流量係数を決定するための試験方法
SEMI F32 - 高純度遮断バルブの流量係数を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E07900 - SEMI E79 - 機器の生産性の定義と測定に関する仕様
SEMI E79 - 機器の生産性の定義と測定に関する仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E07600 - SEMI E76 - 300 mm プロセス機器の施設サービスへの接続ポイントのガイド
SEMI E76 - 300 mm プロセス機器の施設サービスへの接続ポイントのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07200 - SEMI F72 - 不動態化された 316L ステンレス鋼コンポーネントの接液面の酸化層のオージェ電子分光法 (AES) 評価の試験方法
SEMI F72 - 不動態化された 316L ステンレス鋼コンポーネントの接液面の酸化層のオージェ電子分光法 (AES) 評価の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E11500 - SEMI E115 - 半導体処理装置の RF 電力供給システムで使用される整合ネットワークの負荷インピーダンスと効率を決定するためのテスト方法
SEMI E115 - 半導体処理装置の RF 電力供給システムで使用される整合ネットワークの負荷インピーダンスと効率を決定するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E04900 - SEMI E49 - 高純度および超高純度の配管性能、サブアセンブリ、および最終アセンブリに関するガイド
SEMI E49 - 高純度および超高純度の配管性能、サブアセンブリ、および最終アセンブリに関するガイド セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
View All