SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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3D00100 - SEMI 3D1 - 幾何学的計測によるスルーシリコンの用語
SEMI 3D1 - 幾何学的計測によるスルーシリコンの用語 セール価格Member Price: ¥113
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3D00200 - SEMI 3D2 - 3DS-IC アプリケーション用のガラスキャリアウェーハの仕様
SEMI 3D2 - 3DS-IC アプリケーション用のガラスキャリアウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
3D00300 - SEMI 3D3 - テープフレーム上の 300 mm 薄型シリコンウェーハ用マルチウェーハ輸送および保管コンテナのガイド
3D00100 - SEMI 3D1 - スルーシリコンビア(TSV)の幾何学的計測のための用語
A00100 - SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI) - SEMI Dev 2
SEMI A1 - 生産機器スマート接続インターフェース (PESCI) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥28,100
3D00400 - SEMI 3D4 - 貼り合わせたウェーハスタックの厚さ、総厚さ変動(TTV)、反り、反り/反り、および平坦度を測定するための計測ガイド
FH00600 - SEMI FH6 - Terminology for Flexible Hybrid Electronics (FHE)
SEMI FH6 - Terminology for Flexible Hybrid Electronics (FHE) セール価格Member Price:
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A00100 - SEMI A1 - Specification for Production Equipment Smart Connection Interface (PESCI)
P03900 - SEMI P39 - Specification for OASIS® – Open Artwork System Interchange Standard
SEMI P39 - Specification for OASIS® – Open Artwork System Interchange Standard セール価格Member Price:
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S00900 - SEMI S9 - SEMI S22 に移行された半導体製造装置の電気設計検証テストのガイド
S01100 - SEMI S11 - 半導体製造装置のミニ環境に関する環境、安全、および健康に関するガイドライン
S01500 - SEMI S15 - 有毒ガスおよび可燃性ガス検知システムの評価に関する安全ガイドライン
E03800 - SEMI E38 - クラスター ツール モジュール通信 (CTMC)
SEMI E38 - クラスター ツール モジュール通信 (CTMC) セール価格Member Price: ¥113
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M02200 - SEMI M22 - 誘電体絶縁 (DI) ウェーハの仕様
SEMI M22 - 誘電体絶縁 (DI) ウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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F01500 - SEMI F15 - パソコンの試験方法(六フッ化硫黄のトレーサガス)のSEMI S6への移行
F01700 - SEMI F17 - 高純度高品質電解研磨 316L ステンレス鋼チューブ、コンポーネントチューブスタブ、およびチューブ製継手の仕様
D08300 - SEMI D83 - Test Method for Warm-Up Properties of Display Picture Quality
SEMI D83 - Test Method for Warm-Up Properties of Display Picture Quality セール価格Member Price:
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HB01400 - SEMI HB14 - Test Method for Determining Geometrical Parameters of Patterns on Patterned Sapphire Substrate
FH00100 - SEMI FH1 - Test Method of Line Impedance for Electronic Textiles
SEMI FH1 - Test Method of Line Impedance for Electronic Textiles セール価格Member Price:
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FH00200 - SEMI FH2 - Test Method of Sheet Resistance for Woven Electronic Textiles
SEMI FH2 - Test Method of Sheet Resistance for Woven Electronic Textiles セール価格Member Price:
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M09200 - SEMI M92 - Specification for 4H-SIC Homoepitaxial Wafer
PV09800 - SEMI PV100 - Test Method of Wind Uplift Resistance for Photovoltaic Modules Roof (BIPV)
P04900 - SEMI P49 - Specification for Experimental Curvilinear Multigon Extension to SEMI P39
PV10100 - SEMI PV101 - Guide for Scrap Judgement of Photovoltaic Modules in Building
SEMI PV101 - Guide for Scrap Judgement of Photovoltaic Modules in Building セール価格Member Price:
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