SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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1625 製品

E16900 - SEMI E169 - 機器情報システムセキュリティガイド
SEMI E169 - 機器情報システムセキュリティガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F04100 - SEMI F41 - 半導体プロセスで使用されるバルク化学物質分配システムの認定ガイド
SEMI F41 - 半導体プロセスで使用されるバルク化学物質分配システムの認定ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D05600 - SEMI D56 - 液晶ディスプレイの周囲コントラストを測定するための試験方法
SEMI D56 - 液晶ディスプレイの周囲コントラストを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05424 - SEMI E54.24 - 汎用機器ネットワークセンサー (GENsen) のセンサー/アクチュエーターネットワーク固有デバイスモデルの仕様
SEMI E54.24 - 汎用機器ネットワークセンサー (GENsen) のセンサー/アクチュエーターネットワーク固有デバイスモデルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E13400 - SEMI E134 - データ収集管理の仕様
SEMI E134 - データ収集管理の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
E12800 - SEMI E128 - XML メッセージ構造の仕様
SEMI E128 - XML メッセージ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D07500 - SEMI D75 - ディスプレイの色再現と知覚コントラストの試験方法
SEMI D75 - ディスプレイの色再現と知覚コントラストの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E04300 - SEMI E43 - 物体および表面の静電気測定のためのガイド
SEMI E43 - 物体および表面の静電気測定のためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07900 - SEMI F79 - ガス分配コンポーネントに使用されるシリコンとのガス適合性に関するガイド
SEMI F79 - ガス分配コンポーネントに使用されるシリコンとのガス適合性に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E14500 - SEMI E145 - XML における測定単位記号の分類
SEMI E145 - XML における測定単位記号の分類 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E16400 - SEMI E164 - EDA 共通メタデータの仕様
SEMI E164 - EDA 共通メタデータの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E14800 - SEMI E148 - 時刻同期の仕様と TS-Clock オブジェクトの定義
SEMI E148 - 時刻同期の仕様と TS-Clock オブジェクトの定義 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11200 - SEMI F112 - キャビティリングダウン分光法 (CRDS) による表面実装型および従来のガス供給システムの水分ドライダウン特性を測定するための試験方法
SEMI F112 - キャビティリングダウン分光法 (CRDS) による表面実装型および従来のガス供給システムの水分ドライダウン特性を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05417 - SEMI E54.17 - A-LINK のセンサー/アクチュエーター ネットワークの仕様
SEMI E54.17 - A-LINK のセンサー/アクチュエーター ネットワークの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E12900 - SEMI E129 - 半導体製造設備における静電気放電（ESD）の評価と制御へのガイド
SEMI E129 - 半導体製造設備における静電気放電（ESD）の評価と制御へのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
E12100 - SEMI E121 - 半導体製造アプリケーションのための XML のスタイルと使用法に関するガイド
SEMI E121 - 半導体製造アプリケーションのための XML のスタイルと使用法に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D07700 - SEMI D77 - FPD用フィルムの寸法測定の試験方法 – 輪郭マッチング法
SEMI D77 - FPD用フィルムの寸法測定の試験方法 – 輪郭マッチング法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E17600 - SEMI E176 - 半導体製造環境における電磁干渉 (EMI) を評価し、最小限に抑えるためのガイド
SEMI E176 - 半導体製造環境における電磁干渉 (EMI) を評価し、最小限に抑えるためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F04700 - SEMI F47 - 半導体処理装置の電圧低下耐性の仕様
SEMI F47 - 半導体処理装置の電圧低下耐性の仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
E05410 - SEMI E54.10 - In-Situ 粒子監視デバイス用のセンサー/アクチュエーター ネットワーク固有のデバイス モデルの仕様
SEMI E54.10 - In-Situ 粒子監視デバイス用のセンサー/アクチュエーター ネットワーク固有のデバイス モデルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E07800 - SEMI E78 - 機器の静電気放電 (ESD) および静電気吸引 (ESA) を評価および制御するためのガイド
SEMI E78 - 機器の静電気放電 (ESD) および静電気吸引 (ESA) を評価および制御するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F04800 - SEMI F48 - ポリマー材料中の微量金属を測定するための試験方法
SEMI F48 - ポリマー材料中の微量金属を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E15200 - SEMI E152 - 150 mm EUVL レチクル用 EUV ポッドの機械的特徴の仕様
SEMI E152 - 150 mm EUVL レチクル用 EUV ポッドの機械的特徴の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E03300 - SEMI E33 - 半導体製造装置の電磁両立性 (EMC) に関するガイド
SEMI E33 - 半導体製造装置の電磁両立性 (EMC) に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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