SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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1625 製品

E08700 - SEMI E87 - キャリア管理 (CMS) の仕様
SEMI E87 - キャリア管理 (CMS) の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
F10500 - SEMI F105 - ガス供給システムにおける金属材料の適合性に関するガイド
E03900 - SEMI E39 - オブジェクト サービスの仕様: 概念、動作、およびサービス
SEMI E39 - オブジェクト サービスの仕様: 概念、動作、およびサービス セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E00500 - SEMI E5 - 半導体製造装置通信標準2 メッセージ内容(SECS-II)
SEMI E5 - 半導体製造装置通信標準2 メッセージ内容(SECS-II) セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥75,400
E03500 - SEMI E35 - 半導体製造装置の所有コスト (COO) 指標を計算するためのガイド
E11600 - SEMI E116 - 機器性能追跡の仕様
SEMI E116 - 機器性能追跡の仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
D00600 - SEMI D6 - 液晶ディスプレイ (LCD) マスク基板の仕様
SEMI D6 - 液晶ディスプレイ (LCD) マスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E13200 - SEMI E132 - 機器クライアントの認証および認可の仕様
E09000 - SEMI E90 - 基板トラッキングの仕様
SEMI E90 - 基板トラッキングの仕様 セール価格 Member Price : ¥113
F07700 - SEMI F77 - 腐食性ガスシステムで使用されるステンレス鋼表面の電気化学的臨界孔食温度試験の試験方法
E15400 - SEMI E154 - 450 mm ロード ポートの機械的特徴の仕様
SEMI E154 - 450 mm ロード ポートの機械的特徴の仕様 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
E06700 - SEMI E67 - マスフローコントローラーの信頼性を判断するための試験方法
E06600 - SEMI E66 - マスフローコントローラーによる粒子の寄与を決定するための試験方法
E01900 - SEMI E19 - 標準メカニカルインターフェイス (SMIF) の仕様
SEMI E19 - 標準メカニカルインターフェイス (SMIF) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D06700 - SEMI D67 - FPD偏光膜およびその材料の防汚性および耐薬品性の試験方法
SEMI D67 - FPD偏光膜およびその材料の防汚性および耐薬品性の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F03800 - SEMI F38 - ポイントオブユースガスフィルターの効率認定のための試験方法
D06800 - SEMI D68 - 電子ペーパー ディスプレイの光学特性の試験方法
SEMI D68 - 電子ペーパー ディスプレイの光学特性の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05412 - SEMI E54.12 - CC-Link のセンサー/アクチュエーター ネットワーク通信の仕様
E01700 - SEMI E17 - マスフローコントローラー過渡特性テストガイド
SEMI E17 - マスフローコントローラー過渡特性テストガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E09200 - SEMI E92 - ツール相互運用性規格(ボルト/ライト)に準拠した 300 mm の軽量およびコンパクトなボックス オープナー/ローダーの仕様
E13600 - SEMI E136 - 半導体処理装置の RF 電力供給システムで使用される RF 発生器の出力電力を決定するための試験方法
E12900 - SEMI E129 - 半導体製造施設における静電気の評価と制御に関するガイド
E07800 - SEMI E78 - 装置のための静電気放電(ESD)と静電気吸着(ESA)の評価と管理へのガイド
F05900 - SEMI F59 - フィルターまたはガスシステムの流れの圧力降下曲線を決定するための試験方法
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