SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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G05200 - SEMI G52 - 半導体リードフレーム上のイオン汚染測定の試験方法
SEMI G52 - 半導体リードフレーム上のイオン汚染測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07300 - SEMI G73 - ワイヤボンディングの引っ張り強度の試験方法
SEMI G73 - ワイヤボンディングの引っ張り強度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02200 - SEMI F22 - バルクおよび特殊ガス供給システムのガイド
SEMI F22 - バルクおよび特殊ガス供給システムのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02600 - SEMI F26 - グレード 10/0.2 有毒特殊ガスの粒子濃度の仕様
SEMI F26 - グレード 10/0.2 有毒特殊ガスの粒子濃度の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00200 - SEMI HB2 - HB-LED デバイスの製造に使用するための 150 mm オープンプラスチックおよび金属ウェーハカセットの仕様
SEMI HB2 - HB-LED デバイスの製造に使用するための 150 mm オープンプラスチックおよび金属ウェーハカセットの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00300 - SEMI HB3 - 150 mm HB-LED ロード ポートのメカニカル インターフェイスの仕様
SEMI HB3 - 150 mm HB-LED ロード ポートのメカニカル インターフェイスの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF136600 - SEMI MF1366 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープシリコン基板の酸素濃度測定の試験方法
SEMI MF1366 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープシリコン基板の酸素濃度測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04400 - SEMI M44 - シリコン内の格子間酸素の変換係数ガイド
SEMI M44 - シリコン内の格子間酸素の変換係数ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01600 - SEMI M16 - 多結晶シリコンの仕様
SEMI M16 - 多結晶シリコンの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF115300 - SEMI MF1153 - 容量電圧測定による金属酸化シリコン (MOS) 構造の特性評価のための試験方法
SEMI MF1153 - 容量電圧測定による金属酸化シリコン (MOS) 構造の特性評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M08200 - SEMI M82 - 赤外吸収分光法による半絶縁性ガリウムヒ素単結晶中の炭素アクセプター濃度の試験方法
SEMI M82 - 赤外吸収分光法による半絶縁性ガリウムヒ素単結晶中の炭素アクセプター濃度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07100 - SEMI G71 - 包装材料用中間容器のバーコードマーキングの仕様
SEMI G71 - 包装材料用中間容器のバーコードマーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06700 - SEMI M67 - ESFQR、ESFQD、およびESBIRメトリクスを使用して、測定された厚さのデータ配列からウェーハのニアエッジ形状を決定するためのテスト方法
SEMI M67 - ESFQR、ESFQD、およびESBIRメトリクスを使用して、測定された厚さのデータ配列からウェーハのニアエッジ形状を決定するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09200 - SEMI G92 - 450 mm ウェーハ用テープフレームカセットの仕様
SEMI G92 - 450 mm ウェーハ用テープフレームカセットの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F05400 - SEMI F54 - 凝縮核計数器の計数効率を測定するための試験方法
SEMI F54 - 凝縮核計数器の計数効率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G01300 - SEMI G13 - 成形材料の熱膨張特性の試験方法
SEMI G13 - 成形材料の熱膨張特性の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E00500 - SEMI E5 - SEMI 機器通信規格 2 メッセージ内容の仕様 (SECS-II)
SEMI E5 - SEMI 機器通信規格 2 メッセージ内容の仕様 (SECS-II) セール価格 Member Price : ¥225
E08400 - SEMI E84 - 拡張キャリア ハンドオフ パラレル I/O インターフェイスの仕様
SEMI E84 - 拡張キャリア ハンドオフ パラレル I/O インターフェイスの仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
E03000 - SEMI E30 - 製造装置の通信および制御用の汎用モデル (GEM) の仕様
SEMI E30 - 製造装置の通信および制御用の汎用モデル (GEM) の仕様 セール価格 Member Price : ¥225
E04000 - SEMI E40 - 処理管理の仕様
SEMI E40 - 処理管理の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E00400 - SEMI E4 - SEMI 機器通信規格 1 メッセージ転送仕様 (SECS-I)
SEMI E4 - SEMI 機器通信規格 1 メッセージ転送仕様 (SECS-I) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E03700 - SEMI E37 - 高速 SECS メッセージ サービス (HSMS) 汎用サービスの仕様
SEMI E37 - 高速 SECS メッセージ サービス (HSMS) 汎用サービスの仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
E01000 - SEMI E10 - 機器の信頼性、可用性、保守性（RAM）および使用率の定義と測定に関する仕様
SEMI E10 - 機器の信頼性、可用性、保守性（RAM）および使用率の定義と測定に関する仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
E12000 - SEMI E120 - 共通機器モデル (CEM) の仕様
SEMI E120 - 共通機器モデル (CEM) の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
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