SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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M05400 - SEMI M54 - 半絶縁性 (SI) GaAs 材料パラメータのガイド
SEMI M54 - 半絶縁性 (SI) GaAs 材料パラメータのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF008400 - SEMI MF84 - インライン 4 点プローブを使用してシリコン ウェーハの抵抗率を測定するテスト方法
SEMI MF84 - インライン 4 点プローブを使用してシリコン ウェーハの抵抗率を測定するテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G01100 - SEMI G11 - 熱硬化性成形コンパウンドの RAM フォロワーゲルタイムとスパイラルフローの実践
SEMI G11 - 熱硬化性成形コンパウンドの RAM フォロワーゲルタイムとスパイラルフローの実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07800 - SEMI F78 - 半導体製造アプリケーションにおける流体分配システムのガスタングステンアーク（GTA）溶接の実践
SEMI F78 - 半導体製造アプリケーションにおける流体分配システムのガスタングステンアーク（GTA）溶接の実践 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
M06800 - SEMI M68 - 曲率メトリック、ZDD を使用して測定された高さデータ配列からウェーハのニアエッジ形状を決定するためのテスト方法
SEMI M68 - 曲率メトリック、ZDD を使用して測定された高さデータ配列からウェーハのニアエッジ形状を決定するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F05100 - SEMI F51 - エラストメトリック シーリング技術のガイド
SEMI F51 - エラストメトリック シーリング技術のガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F04400 - SEMI F44 - 機械加工ステンレス鋼溶接継手の仕様
SEMI F44 - 機械加工ステンレス鋼溶接継手の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
M08800 - SEMI M88 - 表面光起電力法によるシリコンウェーハ内の少数キャリア拡散長を測定するためのサンプル調製方法の実践
SEMI M88 - 表面光起電力法によるシリコンウェーハ内の少数キャリア拡散長を測定するためのサンプル調製方法の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02300 - SEMI F23 - グレード 10/0.2 水素の粒子濃度の仕様
SEMI F23 - グレード 10/0.2 水素の粒子濃度の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03100 - SEMI M31 - 300 mm ウェーハの輸送および出荷に使用される前開き輸送ボックスの機械的特徴の仕様
SEMI M31 - 300 mm ウェーハの輸送および出荷に使用される前開き輸送ボックスの機械的特徴の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F04500 - SEMI F45 - 機械加工されたステンレス鋼の還元溶接継手の仕様
SEMI F45 - 機械加工されたステンレス鋼の還元溶接継手の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
MF002800 - SEMI MF28 - 光導電率減衰の測定によるバルクゲルマニウムおよびシリコンの少数キャリア寿命の試験方法
SEMI MF28 - 光導電率減衰の測定によるバルクゲルマニウムおよびシリコンの少数キャリア寿命の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF180900 - SEMI MF1809 - シリコンの構造欠陥を描写するためのエッチング溶液の選択と使用に関するガイド
SEMI MF1809 - シリコンの構造欠陥を描写するためのエッチング溶液の選択と使用に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04000 - SEMI M40 - 研磨ウェーハの平面粗さ測定用ガイド
SEMI M40 - 研磨ウェーハの平面粗さ測定用ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08600 - SEMI G86 - 3 点曲げによるチップ (ダイ) 強度測定の試験方法
SEMI G86 - 3 点曲げによるチップ (ダイ) 強度測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G05500 - SEMI G55 - 銀めっきの輝度測定のための試験方法
SEMI G55 - 銀めっきの輝度測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05000 - SEMI M50 - オーバーレイ法による表面走査検査システムの捕捉率および誤計数率を決定するための試験方法
SEMI M50 - オーバーレイ法による表面走査検査システムの捕捉率および誤計数率を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00100 - SEMI HB1 - 高輝度発光ダイオードデバイスの製造に使用するためのサファイアウェーハの仕様
SEMI HB1 - 高輝度発光ダイオードデバイスの製造に使用するためのサファイアウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06300 - SEMI G63 - ダイ剪断強度の測定方法
SEMI G63 - ダイ剪断強度の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
HB00500 - SEMI HB5 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハ上のソーマークの測定のための試験方法
SEMI HB5 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハ上のソーマークの測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00700 - SEMI HB7 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハのうねり測定の試験方法
SEMI HB7 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハのうねり測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05600 - SEMI M56 - 測定のばらつきと偏りによる計測機器のコスト構成要素を決定するための実践
SEMI M56 - 測定のばらつきと偏りによる計測機器のコスト構成要素を決定するための実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF213900 - SEMI MF2139 - 二次イオン質量分析によるシリコン基板の窒素濃度測定の試験方法
SEMI MF2139 - 二次イオン質量分析によるシリコン基板の窒素濃度測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08700 - SEMI G87 - 300 mm ウェーハ用プラスチック テープ フレームの仕様
SEMI G87 - 300 mm ウェーハ用プラスチック テープ フレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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