SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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1625 製品

M00600 - SEMI M6 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様
SEMI M6 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥29,700
M03800 - SEMI M38 - 研磨再生シリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 研磨再生シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06200 - SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M62 - シリコンエピタキシャルウェーハの仕様 セール価格 Member Price : ¥113
MF161700 - SEMI MF1617 - 二次イオン質量分析によるシリコンおよびEPI基板の表面のナトリウム、アルミニウム、カリウム、および鉄を測定するための試験方法
SEMI MF1617 - 二次イオン質量分析によるシリコンおよびEPI基板の表面のナトリウム、アルミニウム、カリウム、および鉄を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05100 - SEMI M51 - ゲート酸化膜の完全性によるシリコンウェーハの特性評価のための試験方法
SEMI M51 - ゲート酸化膜の完全性によるシリコンウェーハの特性評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF039100 - SEMI MF391 - 定常状態の表面光電圧の測定による外部半導体の少数キャリア拡散長の試験方法
SEMI MF391 - 定常状態の表面光電圧の測定による外部半導体の少数キャリア拡散長の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF152800 - SEMI MF1528 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープ N 型シリコン基板のホウ素汚染測定の試験方法
SEMI MF1528 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープ N 型シリコン基板のホウ素汚染測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00800 - SEMI HB8 - サファイア単結晶の方位を決定するための試験方法
SEMI HB8 - サファイア単結晶の方位を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07000 - SEMI F70 - ガス供給システムの粒子寄与率を測定するための試験方法
SEMI F70 - ガス供給システムの粒子寄与率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF207400 - SEMI MF2074 - シリコンおよびその他の半導体ウェーハの直径測定ガイド
SEMI MF2074 - シリコンおよびその他の半導体ウェーハの直径測定ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F02000 - SEMI F20 - 汎用、高純度および超高純度の半導体製造用途で使用されるコンポーネント用の 316L ステンレス鋼の棒、鍛造品、押出形材、プレート、およびチューブの仕様
SEMI F20 - 汎用、高純度および超高純度の半導体製造用途で使用されるコンポーネント用の 316L ステンレス鋼の棒、鍛造品、押出形材、プレート、およびチューブの仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
MF177100 - SEMI MF1771 - 電圧ランプ技術によるゲート酸化膜の完全性を評価するための試験方法
SEMI MF1771 - 電圧ランプ技術によるゲート酸化膜の完全性を評価するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF172600 - SEMI MF1726 - シリコンウェーハの結晶学的完全性解析の実践
SEMI MF1726 - シリコンウェーハの結晶学的完全性解析の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09400 - SEMI G94 - 300 mm ウェーハ用コインスタック型テープフレーム輸送コンテナの仕様
SEMI G94 - 300 mm ウェーハ用コインスタック型テープフレーム輸送コンテナの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF181100 - SEMI MF1811 - 表面プロファイルデータからパワースペクトル密度関数および関連仕上げパラメータを推定するためのガイド
SEMI MF1811 - 表面プロファイルデータからパワースペクトル密度関数および関連仕上げパラメータを推定するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04400 - SEMI M44 - シリコン中の酸素の比較係数ガイド
SEMI M44 - シリコン中の酸素の比較係数ガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F07600 - SEMI F76 - 腐食性ガスに曝露されたガスシステムコンポーネントからの粒子の寄与を評価するための試験方法
SEMI F76 - 腐食性ガスに曝露されたガスシステムコンポーネントからの粒子の寄与を評価するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M08700 - SEMI M87 - 半絶縁性半導体の非接触抵抗率測定の試験方法
SEMI M87 - 半絶縁性半導体の非接触抵抗率測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M05700 - SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様
SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
HB00600 - SEMI HB6 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハの厚さと形状の測定のための試験方法
SEMI HB6 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハの厚さと形状の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F05500 - SEMI F55 - マスフローコントローラーの耐食性を決定するための試験方法
SEMI F55 - マスフローコントローラーの耐食性を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G02900 - SEMI G29 - 成形材料中の微量汚染物質の試験方法
SEMI G29 - 成形材料中の微量汚染物質の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09500 - SEMI G95 - バックエンドプロセスにおけるテープフレームカセット用の 450 mm ロードポートの機械的特徴の仕様
SEMI G95 - バックエンドプロセスにおけるテープフレームカセット用の 450 mm ロードポートの機械的特徴の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G02300 - SEMI G23 - 半導体パッケージの内部配線のインダクタンスの試験方法
SEMI G23 - 半導体パッケージの内部配線のインダクタンスの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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