SEMI F70 - ガス供給システムの粒子寄与率を測定するための試験方法 -

Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900

Volume(s): Facilities
Language: English



Type: Single Standards Download (.pdf)

リビジョン: SEMI F70-0320 - 現在

リビジョン

Abstract

注意: SEMI F70の指定は0320の間に更新されました。 SEMI F70.1の作成を反映する発行サイクル。

 

この文書の目的は、 粒子の寄与を測定するための標準化された方法論と手順 追加される粒子の数に関するガス供給システムのパフォーマンス システム内を流れるガス。この標準化された手順の目的は、 ガス供給システムのサプライヤー、機器のサプライヤー、および 利用者。

 

この試験方法は表面実装および 半導体製造装置で使用される従来のガス供給システム。


下位基準:

SEMI F70.1-0320 の試験方法 ガス供給システムとその粒子寄与率の決定 パルス試験によるコンポーネント

 

参照されるSEMI規格

SEMI C57 — アルゴンの仕様

SEMI C59 — 窒素の仕様

 


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