SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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G08200 - SEMI G82 - バックエンドプロセスにおけるフレームカセット用の 300 mm ロードポートの仕様
SEMI G82 - バックエンドプロセスにおけるフレームカセット用の 300 mm ロードポートの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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MF176300 - SEMI MF1763 - 直線偏光子のコントラストを測定するための試験方法
SEMI MF1763 - 直線偏光子のコントラストを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF163000 - SEMI MF1630 - III-V 族不純物に対する単結晶シリコンの低温 FT-IR 分析のテスト方法
SEMI MF1630 - III-V 族不純物に対する単結晶シリコンの低温 FT-IR 分析のテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F06900 - SEMI F69 - ガス供給システムの輸送および衝撃試験の試験方法
SEMI F69 - ガス供給システムの輸送および衝撃試験の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF015400 - SEMI MF154 - シリコンの鏡面表面に見られる構造および汚染物質の特定に関するガイド
SEMI MF154 - シリコンの鏡面表面に見られる構造および汚染物質の特定に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04300 - SEMI M43 - ウェーハナノトポグラフィーレポート用ガイド
SEMI M43 - ウェーハナノトポグラフィーレポート用ガイド セール価格Member Price: ¥113
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M04500 - SEMI M45 - 300 mm ウェーハ出荷システムの仕様
SEMI M45 - 300 mm ウェーハ出荷システムの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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ME139200 - SEMI ME1392 - 鏡面または拡散面での角度分解光学散乱測定のガイド
SEMI ME1392 - 鏡面または拡散面での角度分解光学散乱測定のガイド セール価格Member Price: ¥113
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M08500 - SEMI M85 - 誘導結合プラズマ質量分析によるシリコンウェーハ表面の微量金属汚染の測定に関するガイド
SEMI M85 - 誘導結合プラズマ質量分析によるシリコンウェーハ表面の微量金属汚染の測定に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
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F06100 - SEMI F61 - 半導体超純水システムの設計および運用ガイド
SEMI F61 - 半導体超純水システムの設計および運用ガイド セール価格Member Price: ¥113
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MF104800 - SEMI MF1048 - 反射全積分散乱を測定するための試験方法MF104800 - SEMI MF1048 - 反射全積分散乱を測定するための試験方法
SEMI MF1048 - 反射全積分散乱を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06600 - SEMI M66 - MIS フラット バンド電圧絶縁体厚さ技術を使用して酸化物および High-K ゲート スタックの実効仕事関数を抽出するテスト方法
SEMI M66 - MIS フラット バンド電圧絶縁体厚さ技術を使用して酸化物および High-K ゲート スタックの実効仕事関数を抽出するテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
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M07300 - SEMI M73 - 測定されたウェーハエッジプロファイルから関連特性を抽出するための試験方法
SEMI M73 - 測定されたウェーハエッジプロファイルから関連特性を抽出するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF115200 - SEMI MF1152 - シリコンウェーハのノッチ寸法の試験方法
SEMI MF1152 - シリコンウェーハのノッチ寸法の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF072800 - SEMI MF728 - 寸法測定用の光学顕微鏡の準備の演習
SEMI MF728 - 寸法測定用の光学顕微鏡の準備の演習 セール価格Member Price: ¥113
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MF152900 - SEMI MF1529 - デュアル構成手順によるインライン 4 点プローブによるシート抵抗均一性評価のテスト方法
SEMI MF1529 - デュアル構成手順によるインライン 4 点プローブによるシート抵抗均一性評価のテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
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G04500 - SEMI G45 - 熱硬化性成形材料のフラッシュ特性の実践
SEMI G45 - 熱硬化性成形材料のフラッシュ特性の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F03400 - SEMI F34 - 液体化学パイプのラベル貼付ガイド
SEMI F34 - 液体化学パイプのラベル貼付ガイド セール価格Member Price: ¥113
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MF153500 - SEMI MF1535 - マイクロ波反射率による光導電率減衰の非接触測定による電子グレードのシリコンウェーハのキャリア再結合寿命の試験方法
SEMI MF1535 - マイクロ波反射率による光導電率減衰の非接触測定による電子グレードのシリコンウェーハのキャリア再結合寿命の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF152700 - SEMI MF1527 - シリコンの抵抗率を測定する機器の校正および制御のための認定標準物質および基準ウェーハの適用に関するガイド
SEMI MF1527 - シリコンの抵抗率を測定する機器の校正および制御のための認定標準物質および基準ウェーハの適用に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
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MF172700 - SEMI MF1727 - 研磨シリコンウェーハの酸化誘発欠陥の検出の実践
SEMI MF1727 - 研磨シリコンウェーハの酸化誘発欠陥の検出の実践 セール価格Member Price: ¥113
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MF011000 - SEMI MF110 - アングルラッピングおよびステイン技術によるシリコンのエピタキシャル層または拡散層の厚さの試験方法
SEMI MF110 - アングルラッピングおよびステイン技術によるシリコンのエピタキシャル層または拡散層の厚さの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01200 - SEMI M12 - ウェーハ前面のシリアル英数字マーキングの仕様
SEMI M12 - ウェーハ前面のシリアル英数字マーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01700 - SEMI M17 - ユニバーサルウェーハグリッド用ガイド
SEMI M17 - ユニバーサルウェーハグリッド用ガイド セール価格Member Price: ¥113
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