SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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G05200 - SEMI G52 - 반도체 리드프레임의 이온 오염 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G52 - 반도체 리드프레임의 이온 오염 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G07300 - SEMI G73 - 와이어 본딩을 위한 인장 강도 테스트 방법
SEMI G73 - 와이어 본딩을 위한 인장 강도 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02200 - SEMI F22 - 벌크 및 특수 가스 분배 시스템 가이드
SEMI F22 - 벌크 및 특수 가스 분배 시스템 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02600 - SEMI F26 - 등급 10/0.2 독성 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F26 - 등급 10/0.2 독성 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00200 - SEMI HB2 - HB-LED 장치 제조용 150mm 개방형 플라스틱 및 금속 웨이퍼 카세트 사양
SEMI HB2 - HB-LED 장치 제조용 150mm 개방형 플라스틱 및 금속 웨이퍼 카세트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00300 - SEMI HB3 - 150mm HB-LED 로드 포트용 기계적 인터페이스 사양
SEMI HB3 - 150mm HB-LED 로드 포트용 기계적 인터페이스 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF136600 - SEMI MF1366 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 실리콘 기판의 산소 농도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1366 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 실리콘 기판의 산소 농도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M04400 - SEMI M44 - 실리콘의 침입형 산소에 대한 변환 계수 가이드
SEMI M44 - 실리콘의 침입형 산소에 대한 변환 계수 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M01600 - SEMI M16 - 다결정 실리콘 사양
SEMI M16 - 다결정 실리콘 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF115300 - SEMI MF1153 - 커패시턴스-전압 측정에 의한 금속 산화물 실리콘(MOS) 구조의 특성화를 위한 테스트 방법
SEMI MF1153 - 커패시턴스-전압 측정에 의한 금속 산화물 실리콘(MOS) 구조의 특성화를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M08200 - SEMI M82 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반 절연 갈륨 비소 단결정의 탄소 수용체 농도에 대한 테스트 방법
SEMI M82 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반 절연 갈륨 비소 단결정의 탄소 수용체 농도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G07100 - SEMI G71 - 포장재 중간 용기의 바코드 마킹 사양
SEMI G71 - 포장재 중간 용기의 바코드 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M06700 - SEMI M67 - ESFQR, ESFQD 및 ESBIR 메트릭을 사용하여 측정된 두께 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M67 - ESFQR, ESFQD 및 ESBIR 메트릭을 사용하여 측정된 두께 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G09200 - SEMI G92 - 450mm 웨이퍼용 테이프 프레임 카세트 사양
SEMI G92 - 450mm 웨이퍼용 테이프 프레임 카세트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F05400 - SEMI F54 - 응축 핵 계수기의 계수 효율 측정을 위한 테스트 방법
SEMI F54 - 응축 핵 계수기의 계수 효율 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G01300 - SEMI G13 - 몰딩 컴파운드의 열팽창 특성 테스트 방법
SEMI G13 - 몰딩 컴파운드의 열팽창 특성 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
E00500 - SEMI E5 - SEMI 장비 통신 표준 2 메시지 내용(SECS-II) 사양
SEMI E5 - SEMI 장비 통신 표준 2 메시지 내용(SECS-II) 사양 할인 가격 Member Price : ₩225
E08400 - SEMI E84 - 향상된 캐리어 핸드오프 병렬 I/O 인터페이스 사양
SEMI E84 - 향상된 캐리어 핸드오프 병렬 I/O 인터페이스 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩570,000
E03000 - SEMI E30 - 제조 장비(GEM)의 통신 및 제어를 위한 일반 모델 사양
SEMI E30 - 제조 장비(GEM)의 통신 및 제어를 위한 일반 모델 사양 할인 가격 Member Price : ₩225
E04000 - SEMI E40 - 처리 관리 사양
SEMI E40 - 처리 관리 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
E00400 - SEMI E4 - SEMI 장비 통신 표준 1 메시지 전송 사양(SECS-I)
SEMI E4 - SEMI 장비 통신 표준 1 메시지 전송 사양(SECS-I) 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
E03700 - SEMI E37 - 고속 SECS 메시지 서비스(HSMS) 일반 서비스 사양
SEMI E37 - 고속 SECS 메시지 서비스(HSMS) 일반 서비스 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩570,000
E01000 - SEMI E10 - 장비 신뢰성, 가용성, 유지보수성(RAM) 및 활용도의 정의 및 측정을 위한 사양
SEMI E10 - 장비 신뢰성, 가용성, 유지보수성(RAM) 및 활용도의 정의 및 측정을 위한 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩570,000
E12000 - SEMI E120 - 공통 장비 모델(CEM) 사양
SEMI E120 - 공통 장비 모델(CEM) 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
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