SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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상품 1625개

G08200 - SEMI G82 - 백엔드 프로세스의 프레임 카세트용 300mm 로드 포트 사양
SEMI G82 - 백엔드 프로세스의 프레임 카세트용 300mm 로드 포트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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MF176300 - SEMI MF1763 - 선형 편광판의 콘트라스트 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1763 - 선형 편광판의 콘트라스트 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF163000 - SEMI MF1630 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 저온 FT-IR 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1630 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 저온 FT-IR 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F06900 - SEMI F69 - 가스 전달 시스템의 운송 및 충격 테스트를 위한 테스트 방법
SEMI F69 - 가스 전달 시스템의 운송 및 충격 테스트를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF015400 - SEMI MF154 - 경면 실리콘 표면에서 보이는 구조 및 오염 물질 식별을 위한 가이드
SEMI MF154 - 경면 실리콘 표면에서 보이는 구조 및 오염 물질 식별을 위한 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M04300 - SEMI M43 - 웨이퍼 나노토포그래피 보고 가이드
SEMI M43 - 웨이퍼 나노토포그래피 보고 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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M04500 - SEMI M45 - 300mm 웨이퍼 운송 시스템 사양
SEMI M45 - 300mm 웨이퍼 운송 시스템 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
ME139200 - SEMI ME1392 - Specular 또는 Diffuse Surfaces에서 Angle Resolved Optical Scatter 측정 가이드
SEMI ME1392 - Specular 또는 Diffuse Surfaces에서 Angle Resolved Optical Scatter 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M08500 - SEMI M85 - 유도 결합 플라즈마 질량분석법을 통한 실리콘 웨이퍼 표면의 미량 금속 오염 측정 가이드
SEMI M85 - 유도 결합 플라즈마 질량분석법을 통한 실리콘 웨이퍼 표면의 미량 금속 오염 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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F06100 - SEMI F61 - 반도체 초순수 시스템의 설계 및 작동 가이드
SEMI F61 - 반도체 초순수 시스템의 설계 및 작동 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF104800 - SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법MF104800 - SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M06600 - SEMI M66 - MIS 플랫 밴드 전압 절연체 두께 기법을 사용하여 산화물 및 고유전율 게이트 스택에서 유효 일함수를 추출하는 테스트 방법
SEMI M66 - MIS 플랫 밴드 전압 절연체 두께 기법을 사용하여 산화물 및 고유전율 게이트 스택에서 유효 일함수를 추출하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M07300 - SEMI M73 - 측정된 웨이퍼 에지 프로파일에서 관련 특성을 추출하기 위한 테스트 방법
SEMI M73 - 측정된 웨이퍼 에지 프로파일에서 관련 특성을 추출하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF115200 - SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법
SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF072800 - SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습
SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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MF152900 - SEMI MF1529 - 이중 구성 절차를 사용하는 인라인 4점 프로브에 의한 시트 저항 균일성 평가를 위한 테스트 방법
SEMI MF1529 - 이중 구성 절차를 사용하는 인라인 4점 프로브에 의한 시트 저항 균일성 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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G04500 - SEMI G45 - 열경화성 몰딩 컴파운드의 플래시 특성 실습
SEMI G45 - 열경화성 몰딩 컴파운드의 플래시 특성 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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F03400 - SEMI F34 - 액체 화학 파이프 라벨링 가이드
SEMI F34 - 액체 화학 파이프 라벨링 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF153500 - SEMI MF1535 - 전자 등급 실리콘 웨이퍼의 캐리어 재결합 수명 테스트 방법
SEMI MF1535 - 전자 등급 실리콘 웨이퍼의 캐리어 재결합 수명 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF152700 - SEMI MF1527 - 실리콘의 비저항 측정 기기의 교정 및 제어를 위한 인증된 기준 물질 및 기준 웨이퍼 적용 안내서
SEMI MF1527 - 실리콘의 비저항 측정 기기의 교정 및 제어를 위한 인증된 기준 물질 및 기준 웨이퍼 적용 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
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MF172700 - SEMI MF1727 - 연마된 실리콘 웨이퍼에서 산화로 인한 결함 감지를 위한 실습
SEMI MF1727 - 연마된 실리콘 웨이퍼에서 산화로 인한 결함 감지를 위한 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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MF011000 - SEMI MF110 - 각도 래핑 및 염색 기법에 의한 실리콘의 에피택셜 또는 확산층 두께 테스트 방법
SEMI MF110 - 각도 래핑 및 염색 기법에 의한 실리콘의 에피택셜 또는 확산층 두께 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M01200 - SEMI M12 - 웨이퍼 전면의 일련의 영숫자 마킹 사양
SEMI M12 - 웨이퍼 전면의 일련의 영숫자 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M01700 - SEMI M17 - 범용 웨이퍼 그리드용 가이드
SEMI M17 - 범용 웨이퍼 그리드용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
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