SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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상품 1625개

M05400 - SEMI M54 - 반절연(SI) GaAs 재료 매개변수 가이드
SEMI M54 - 반절연(SI) GaAs 재료 매개변수 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF008400 - SEMI MF84 - 인라인 4점 프로브로 실리콘 웨이퍼의 비저항을 측정하는 테스트 방법
SEMI MF84 - 인라인 4점 프로브로 실리콘 웨이퍼의 비저항을 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G01100 - SEMI G11 - RAM Follower 겔 시간 및 열경화 성형 화합물의 스파이럴 흐름 실습
SEMI G11 - RAM Follower 겔 시간 및 열경화 성형 화합물의 스파이럴 흐름 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F07800 - SEMI F78 - 반도체 제조 응용 분야에서 유체 분배 시스템의 가스 텅스텐 아크(GTA) 용접 실습
SEMI F78 - 반도체 제조 응용 분야에서 유체 분배 시스템의 가스 텅스텐 아크(GTA) 용접 실습 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩570,000
M06800 - SEMI M68 - 곡률 메트릭(ZDD)을 사용하여 측정된 높이 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M68 - 곡률 메트릭(ZDD)을 사용하여 측정된 높이 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F05100 - SEMI F51 - 엘라스토메트릭 씰링 기술 가이드
SEMI F51 - 엘라스토메트릭 씰링 기술 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F04400 - SEMI F44 - 가공된 스테인리스강 용접 피팅 사양
SEMI F44 - 가공된 스테인리스강 용접 피팅 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
M08800 - SEMI M88 - 표면 광전압 방법으로 실리콘 웨이퍼의 소수 캐리어 확산 길이를 측정하기 위한 샘플 준비 방법 실습
SEMI M88 - 표면 광전압 방법으로 실리콘 웨이퍼의 소수 캐리어 확산 길이를 측정하기 위한 샘플 준비 방법 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02300 - SEMI F23 - 등급 10/0.2 수소의 입자 농도 사양
SEMI F23 - 등급 10/0.2 수소의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M03100 - SEMI M31 - 300mm 웨이퍼 운송 및 배송에 사용되는 전면 개방 배송 상자의 기계적 특징 사양
SEMI M31 - 300mm 웨이퍼 운송 및 배송에 사용되는 전면 개방 배송 상자의 기계적 특징 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F04500 - SEMI F45 - 가공된 스테인리스강 감소 용접 피팅 사양
SEMI F45 - 가공된 스테인리스강 감소 용접 피팅 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
MF002800 - SEMI MF28 - 광전도성 붕괴 측정에 의한 벌크 게르마늄 및 실리콘의 소수 캐리어 수명 테스트 방법
SEMI MF28 - 광전도성 붕괴 측정에 의한 벌크 게르마늄 및 실리콘의 소수 캐리어 수명 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF180900 - SEMI MF1809 - 실리콘의 구조적 결함을 묘사하기 위한 에칭 솔루션의 선택 및 사용 가이드
SEMI MF1809 - 실리콘의 구조적 결함을 묘사하기 위한 에칭 솔루션의 선택 및 사용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M04000 - SEMI M40 - 광택 웨이퍼의 평면 표면 거칠기 측정 가이드
SEMI M40 - 광택 웨이퍼의 평면 표면 거칠기 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G08600 - SEMI G86 - 3점 굽힘을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법
SEMI G86 - 3점 굽힘을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G05500 - SEMI G55 - 은도금 밝기 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G55 - 은도금 밝기 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05000 - SEMI M50 - 오버레이 방법으로 표면 스캐닝 검사 시스템의 캡처율 및 오계수율을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M50 - 오버레이 방법으로 표면 스캐닝 검사 시스템의 캡처율 및 오계수율을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00100 - SEMI HB1 - 고휘도 발광 다이오드 장치 제조용 사파이어 웨이퍼 사양
SEMI HB1 - 고휘도 발광 다이오드 장치 제조용 사파이어 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06300 - SEMI G63 - ダイ剪断強度の測定方法
SEMI G63 - ダイ剪断強度の測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
HB00500 - SEMI HB5 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 톱니 자국 측정을 위한 테스트 방법
SEMI HB5 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 톱니 자국 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00700 - SEMI HB7 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 파형 측정을 위한 테스트 방법
SEMI HB7 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 파형 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05600 - SEMI M56 - 측정 변동성 및 편향으로 인한 계측 장비의 비용 구성 요소 결정을 위한 실습
SEMI M56 - 측정 변동성 및 편향으로 인한 계측 장비의 비용 구성 요소 결정을 위한 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF213900 - SEMI MF2139 - 2차 이온 질량분석법으로 실리콘 기판의 질소 농도를 측정하는 테스트 방법
SEMI MF2139 - 2차 이온 질량분석법으로 실리콘 기판의 질소 농도를 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G08700 - SEMI G87 - 300mm 웨이퍼용 플라스틱 테이프 프레임 사양
SEMI G87 - 300mm 웨이퍼용 플라스틱 테이프 프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
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