SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

필터

정렬 기준::

상품 1625개

M00600 - SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様
SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩271,000
M03800 - SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M06200 - SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양
SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
MF161700 - SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05100 - SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법
SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF039100 - SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법
SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF152800 - SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법
SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00800 - SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법
SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F07000 - SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법
SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF207400 - SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드
SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02000 - SEMI F20 - 범용, 고순도 및 초고순도 반도체 제조 응용 분야에 사용되는 부품용 316L 스테인리스 스틸 바, 단조품, 압출 성형품, 플레이트 및 튜브 사양
SEMI F20 - 범용, 고순도 및 초고순도 반도체 제조 응용 분야에 사용되는 부품용 316L 스테인리스 스틸 바, 단조품, 압출 성형품, 플레이트 및 튜브 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩571,000
MF177100 - SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법
SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF172600 - SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습
SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G09400 - SEMI G94 - 300mm 웨이퍼용 코인 스택형 테이프 프레임 운송 컨테이너 사양
SEMI G94 - 300mm 웨이퍼용 코인 스택형 테이프 프레임 운송 컨테이너 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF181100 - SEMI MF1811 - 표면 프로필 데이터에서 전력 스펙트럼 밀도 함수 및 관련 마감 매개변수를 추정하기 위한 안내서
SEMI MF1811 - 표면 프로필 데이터에서 전력 스펙트럼 밀도 함수 및 관련 마감 매개변수를 추정하기 위한 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M04400 - SEMI M44 - 시리콘중의 酸素の換算係数가이드
SEMI M44 - 시리콘중의 酸素の換算係数가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
F07600 - SEMI F76 - 부식성 가스에 노출된 가스 시스템 구성 요소의 입자 기여 평가를 위한 테스트 방법
SEMI F76 - 부식성 가스에 노출된 가스 시스템 구성 요소의 입자 기여 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M08700 - SEMI M87 - 반절연 반도체의 비접촉 비저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M87 - 반절연 반도체의 비접촉 비저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05700 - SEMI M57 - 실리콘 열처리 웨이퍼 사양
SEMI M57 - 실리콘 열처리 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00600 - SEMI HB6 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 두께 및 형상 측정을 위한 테스트 방법
SEMI HB6 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 두께 및 형상 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F05500 - SEMI F55 - 질량 흐름 컨트롤러의 내식성을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F55 - 질량 흐름 컨트롤러의 내식성을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G02900 - SEMI G29 - 몰딩 컴파운드의 미량 오염 물질에 대한 테스트 방법
SEMI G29 - 몰딩 컴파운드의 미량 오염 물질에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G09500 - SEMI G95 - 백엔드 공정에서 테이프 프레임 카세트용 450mm 로드 포트의 기계적 기능 사양
SEMI G95 - 백엔드 공정에서 테이프 프레임 카세트용 450mm 로드 포트의 기계적 기능 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G02300 - SEMI G23 - 반도체 패키지의 내부 트레이스에 대한 인덕턴스 테스트 방법
SEMI G23 - 반도체 패키지의 내부 트레이스에 대한 인덕턴스 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
View All