SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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MF123900 - SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법
SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF052300 - SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습
SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M07700 - SEMI M77 - Roll-Off Amount, ROA를 사용하여 Wafer Near-Edge 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M77 - Roll-Off Amount, ROA를 사용하여 Wafer Near-Edge 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF002600 - SEMI MF26 - 반도체 단결정의 배향 결정을 위한 테스트 방법
SEMI MF26 - 반도체 단결정의 배향 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M08600 - SEMI M86 - 연마된 단결정질 c-평면 갈륨 질화물 웨이퍼 사양
SEMI M86 - 연마된 단결정질 c-평면 갈륨 질화물 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F04000 - SEMI F40 - 화학 테스트를 위한 액체 화학 분배 구성 요소 및 순수 폴리머 준비 실습
SEMI F40 - 화학 테스트를 위한 액체 화학 분배 구성 요소 및 순수 폴리머 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F06400 - SEMI F64 - 질량 흐름 컨트롤러의 지시 및 실제 흐름에 대한 압력 영향을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F64 - 질량 흐름 컨트롤러의 지시 및 실제 흐름에 대한 압력 영향을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF057600 - SEMI MF576 - 엘립소메트리에 의한 실리콘 기판의 절연체 두께 및 굴절률 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF576 - 엘립소메트리에 의한 실리콘 기판의 절연체 두께 및 굴절률 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F06300 - SEMI F63 - 반도체 공정에 사용되는 초순수 가이드
SEMI F63 - 반도체 공정에 사용되는 초순수 가이드 할인 가격Member Price: ₩252
Non-Member Price: ₩571,000
MF053300 - SEMI MF533 - 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 편차에 대한 테스트 방법
SEMI MF533 - 실리콘 웨이퍼의 두께 및 두께 편차에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF145100 - SEMI MF1451 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼 상의 소리 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1451 - 자동화된 비접촉 스캐닝에 의한 실리콘 웨이퍼 상의 소리 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M01000 - SEMI M10 - 갈륨 비소 웨이퍼에서 볼 수 있는 구조 및 특징 식별을 위한 용어
SEMI M10 - 갈륨 비소 웨이퍼에서 볼 수 있는 구조 및 특징 식별을 위한 용어 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05800 - SEMI M58 - DMA 기반 입자 증착 시스템 및 프로세스를 평가하기 위한 테스트 방법
SEMI M58 - DMA 기반 입자 증착 시스템 및 프로세스를 평가하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M04100 - SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양
SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M06300 - SEMI M63 - 고분해능 X선 회절에 의해 GaAs 기판에서 AlGaAs의 Al 비율을 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M63 - 고분해능 X선 회절에 의해 GaAs 기판에서 AlGaAs의 Al 비율을 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M02100 - SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드
SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF161800 - SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습
SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF104900 - SEMI MF1049 - 실리콘 웨이퍼의 Shallow Etch Pit 검출 실습
SEMI MF1049 - 실리콘 웨이퍼의 Shallow Etch Pit 검출 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M08100 - SEMI M81 - 단결정 실리콘 카바이드 기판에서 발견된 결함에 대한 안내
SEMI M81 - 단결정 실리콘 카바이드 기판에서 발견된 결함에 대한 안내 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M07900 - SEMI M79 - 태양 전지 응용 분야를 위한 원형 100mm 광택 단결정 게르마늄 웨이퍼 사양
SEMI M79 - 태양 전지 응용 분야를 위한 원형 100mm 광택 단결정 게르마늄 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M06100 - SEMI M61 - 매립층이 있는 실리콘 에피택셜 웨이퍼 사양
SEMI M61 - 매립층이 있는 실리콘 에피택셜 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02500 - SEMI F25 - 등급 10/0.2 산화제 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F25 - 등급 10/0.2 산화제 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF092800 - SEMI MF928 - 원형 반도체 웨이퍼 및 경질 디스크 기판의 에지 윤곽에 대한 테스트 방법
SEMI MF928 - 원형 반도체 웨이퍼 및 경질 디스크 기판의 에지 윤곽에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F03700 - SEMI F37 - 가스 분배 시스템 구성요소의 표면 거칠기 매개변수 결정을 위한 테스트 방법
SEMI F37 - 가스 분배 시스템 구성요소의 표면 거칠기 매개변수 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
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