SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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상품 1625개

M02000 - SEMI M20 - 웨이퍼 좌표계 설정 실습
SEMI M20 - 웨이퍼 좌표계 설정 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M02300 - SEMI M23 - 연마된 단결정 인듐 인화물 웨이퍼 사양
SEMI M23 - 연마된 단결정 인듐 인화물 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF156900 - SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드
SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F09800 - SEMI F98 - 반도체 공정에서 재사용수 처리 가이드
SEMI F98 - 반도체 공정에서 재사용수 처리 가이드 할인 가격 Member Price : ₩113
MF067400 - SEMI MF674 - 확산 저항 측정을 위한 실리콘 준비 실습
SEMI MF674 - 확산 저항 측정을 위한 실리콘 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G07400 - SEMI G74 - 300mm 웨이퍼용 테이프 프레임 사양
SEMI G74 - 300mm 웨이퍼용 테이프 프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06900 - SEMI G69 - 리드프레임과 몰딩 컴파운드 간의 접착 강도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G69 - 리드프레임과 몰딩 컴파운드 간의 접착 강도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB01000 - SEMI HB10 - HB-LED 웨이퍼 제조용 단결정 사파이어 사양
SEMI HB10 - HB-LED 웨이퍼 제조용 단결정 사파이어 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF172500 - SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습
SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF067200 - SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드
SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06300 - SEMI G63 - 다이 전단 강도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G63 - 다이 전단 강도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M06000 - SEMI M60 - Si 웨이퍼 평가를 위한 SiO2 필름의 시간 종속 유전체 파괴 특성에 대한 테스트 방법
SEMI M60 - Si 웨이퍼 평가를 위한 SiO2 필름의 시간 종속 유전체 파괴 특성에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M08300 - SEMI M83 - III-V 화합물 반도체의 단결정에서 전위 에칭 피트 밀도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M83 - III-V 화합물 반도체의 단결정에서 전위 에칭 피트 밀도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격 Member Price : ₩113
MF198200 - SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF067100 - SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M08400 - SEMI M84 - 갈륨 질화물-온-실리콘 애플리케이션용 연마 단결정 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M84 - 갈륨 질화물-온-실리콘 애플리케이션용 연마 단결정 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M07400 - SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양
SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06600 - SEMI G66 - 반도체 플라스틱 몰딩 컴파운드의 수분 흡수 특성 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G66 - 반도체 플라스틱 몰딩 컴파운드의 수분 흡수 특성 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G04300 - SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF138900 - SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G09600 - SEMI G96 - 캔틸레버 벤딩을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법
SEMI G96 - 캔틸레버 벤딩을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법 할인 가격 Member Price : ₩113
MF139100 - SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법
SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G08900 - SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양
SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF138800 - SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법
SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
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