SEMI G69 - 리드프레임과 몰딩 컴파운드 간의 접착 강도 측정을 위한 테스트 방법 -

개정: SEMI G69-0996(재승인 0318) - 현재

개정

Abstract

이 표준은 Assembly & Packaging Global Technical Committee에서 기술적으로 승인되었습니다. 이 에디션은 2017년 8월 18일 글로벌 감사 및 검토 소위원회의 출판 승인을 받았습니다. 2018년 3월 www.semiviews.org 및 www.semi.org에서 볼 수 있습니다. 원래 1996년에 출판되었습니다. 이전에 게시된 2011년 8월.

알림: 이 문서는 약간의 편집 변경을 거쳐 재승인되었습니다.

이 문서는 반도체 패키지용 몰딩 컴파운드와 리드프레임 사이의 접착 강도를 측정하는 절차를 설명합니다. 절차에는 전단 테스트, 인장 테스트 및 3점 굽힘 기술이 포함됩니다.

이 문서는 모든 유형의 반도체 리드프레임 및 몰딩 컴파운드에 사용할 수 있습니다. 이 방법은 리드프레임 제조업체, 몰딩 컴파운드 제조업체 및 고객이 가이드라인으로 리드프레임 및 몰딩 컴파운드를 평가하는 데 도움이 됩니다.

이 문서의 방법은 SI 단위를 사용합니다.

참조된 SEMI 표준

없음.

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