SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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M02100 - SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드
SEMI M21 - 데카르트 배열의 직사각형 요소에 주소 할당 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F02500 - SEMI F25 - 등급 10/0.2 산화제 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F25 - 등급 10/0.2 산화제 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06100 - SEMI M61 - 매립층이 있는 실리콘 에피택셜 웨이퍼 사양
SEMI M61 - 매립층이 있는 실리콘 에피택셜 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07900 - SEMI M79 - 태양 전지 응용 분야를 위한 원형 100mm 광택 단결정 게르마늄 웨이퍼 사양
SEMI M79 - 태양 전지 응용 분야를 위한 원형 100mm 광택 단결정 게르마늄 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF156900 - SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드
SEMI MF1569 - 반도체 기술에 대한 합의 참조 자료 생성 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01500 - SEMI G15 - 모르딩콘파운드示差走査熱量分析の標準試験方法
SEMI G15 - 모르딩콘파운드示差走査熱量分析の標準試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF172500 - SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습
SEMI MF1725 - 실리콘 잉곳의 결정학적 완전성 분석 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF067200 - SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드
SEMI MF672 - 확산 저항 프로브를 사용하여 실리콘 웨이퍼 표면에 수직인 비저항 프로파일 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06500 - SEMI M65 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼에 사용할 사파이어 기판 사양
SEMI M65 - 복합 반도체 에피택셜 웨이퍼에 사용할 사파이어 기판 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G06300 - SEMI G63 - 다이 전단 강도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G63 - 다이 전단 강도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI용 시리콘・온・인슈레이타(SOI) 웨하노타메 사양
SEMI M71 - CMOS LSI용 시리콘・온・인슈레이타(SOI) 웨하노타메 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF067100 - SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04200 - SEMI M42 - 화합물화합물체 에피타키샤르웨하노사
SEMI M42 - 화합물화합물체 에피타키샤르웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M03800 - SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02400 - SEMI G24 - 패키지 리드의 리드 간 및 로딩 커패시턴스 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G24 - 패키지 리드의 리드 간 및 로딩 커패시턴스 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF161700 - SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M05100 - SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법
SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF177100 - SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법
SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G05100 - SEMI G51 - 플라스틱 성형(미터법) 쿼드 플랫 팩 리드프레임 사양
SEMI G51 - 플라스틱 성형(미터법) 쿼드 플랫 팩 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F02000 - SEMI F20 - 범용, 고순도 및 초고순도 반도체 제조 응용 분야에 사용되는 부품용 316L 스테인리스 스틸 바, 단조품, 압출 성형품, 플레이트 및 튜브 사양
SEMI F20 - 범용, 고순도 및 초고순도 반도체 제조 응용 분야에 사용되는 부품용 316L 스테인리스 스틸 바, 단조품, 압출 성형품, 플레이트 및 튜브 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩572,000
G06700 - SEMI G67 - 시트 재료의 입자 생성 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G67 - 시트 재료의 입자 생성 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09400 - SEMI G94 - 300mm 웨이퍼용 코인 스택형 테이프 프레임 운송 컨테이너 사양
SEMI G94 - 300mm 웨이퍼용 코인 스택형 테이프 프레임 운송 컨테이너 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04000 - SEMI M40 - 시리콘 웨하 화면의 라후네스 확정 가이드
SEMI M40 - 시리콘 웨하 화면의 라후네스 확정 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G02100 - SEMI G21 - 집적 회로 리드프레임 도금 사양
SEMI G21 - 집적 회로 리드프레임 도금 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000