SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양
SEMI M71 - CMOS LSI용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09500 - SEMI G95 - 작업용 450mm 웨하용 테이프 프레임 카셋트 전용 로드 포트의 인타페스 사양
SEMI G95 - 작업용 450mm 웨하용 테이프 프레임 카셋트 전용 로드 포트의 인타페스 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF139000 - SEMI MF1390 - 자동 비접촉 스캐닝으로 실리콘 웨이퍼의 휨 및 휨을 측정하는 테스트 방법
SEMI MF1390 - 자동 비접촉 스캐닝으로 실리콘 웨이퍼의 휨 및 휨을 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07100 - SEMI G71 - 포장재 중간 용기의 바코드 마킹 사양
SEMI G71 - 포장재 중간 용기의 바코드 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06700 - SEMI M67 - ESFQR, ESFQD 및 ESBIR 메트릭을 사용하여 측정된 두께 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M67 - ESFQR, ESFQD 및 ESBIR 메트릭을 사용하여 측정된 두께 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F05400 - SEMI F54 - 응축 핵 계수기의 계수 효율 측정을 위한 테스트 방법
SEMI F54 - 응축 핵 계수기의 계수 효율 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF072300 - SEMI MF723 - 붕소 도핑, 인 도핑 및 비소 도핑 실리콘에 대한 비저항과 도펀트 또는 캐리어 밀도 간 변환 실습
SEMI MF723 - 붕소 도핑, 인 도핑 및 비소 도핑 실리콘에 대한 비저항과 도펀트 또는 캐리어 밀도 간 변환 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M01700 - SEMI M17 - 일체형 웨하그리드 가이드
SEMI M17 - 일체형 웨하그리드 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF181000 - SEMI MF1810 - 실리콘 웨이퍼에서 우선적으로 에칭되거나 장식된 표면 결함을 계산하기 위한 테스트 방법
SEMI MF1810 - 실리콘 웨이퍼에서 우선적으로 에칭되거나 장식된 표면 결함을 계산하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G06500 - SEMI G65 - L-리드(갈매기 날개 유형) 패키지에 사용되는 리드프레임 재료 평가를 위한 테스트 방법
SEMI G65 - L-리드(갈매기 날개 유형) 패키지에 사용되는 리드프레임 재료 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F11000 - SEMI F110 - 액체 필터의 단분산 폴리스티렌 라텍스(PSL) 문제에 대한 테스트 방법
SEMI F110 - 액체 필터의 단분산 폴리스티렌 라텍스(PSL) 문제에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF004200 - SEMI MF42 - 외부 반도체 재료의 전도도 유형 테스트 방법
SEMI MF42 - 외부 반도체 재료의 전도도 유형 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF161900 - SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1619 - 브루스터 각도에서 p-편광 방사 입사를 사용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F07500 - SEMI F75 - 반도체 제조에 사용되는 초순수 품질 모니터링 가이드
SEMI F75 - 반도체 제조에 사용되는 초순수 품질 모니터링 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F10100 - SEMI F101 - 가스 분배 시스템에서 압력 조절기 성능을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F101 - 가스 분배 시스템에서 압력 조절기 성능을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF123900 - SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법
SEMI MF1239 - 침입형 산소 환원 측정에 의한 실리콘 웨이퍼의 산소 석출 특성 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF002600 - SEMI MF26 - 반도체 단결정의 배향 결정을 위한 테스트 방법
SEMI MF26 - 반도체 단결정의 배향 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF052300 - SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습
SEMI MF523 - 연마된 실리콘 웨이퍼 표면의 육안 검사 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06600 - SEMI M66 - MISFlattband 電圧―絶縁膜厚法を使った，酸化膜，およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出法
SEMI M66 - MISFlattband 電圧―絶縁膜厚法を使った，酸化膜，およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
F06300 - SEMI F63 - 반도체 공정에 사용되는 초순수 가이드
SEMI F63 - 반도체 공정에 사용되는 초순수 가이드 할인 가격Member Price: ₩252
Non-Member Price: ₩572,000
M04100 - SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양
SEMI M41 - 전력 장치/IC용 SOI(Silicon-on-Insulator) 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M05800 - SEMI M58 - DMA 기반 입자 증착 시스템 및 프로세스를 평가하기 위한 테스트 방법
SEMI M58 - DMA 기반 입자 증착 시스템 및 프로세스를 평가하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF161800 - SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습
SEMI MF1618 - 실리콘 웨이퍼 상의 박막 균일도 측정 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04600 - SEMI M46 - ECV 프로파일링을 통해 에피택셜 층 구조에서 캐리어 농도를 측정하기 위한 테스트 방법
SEMI M46 - ECV 프로파일링을 통해 에피택셜 층 구조에서 캐리어 농도를 측정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000