SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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M06800 - SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのedge近傍形状を決定するため의 作業方法
SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのedge近傍形状を決定するため의 作業方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M06000 - SEMI M60 - SiO2의 종시계를 위한 시리콘 웨하 웨어러블의 経時絶縁破壊特性の試験方法
SEMI M60 - SiO2의 종시계를 위한 시리콘 웨하 웨어러블의 経時絶縁破壊特性の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G03800 - SEMI G38 - 집적 회로 패키지의 정적 및 강제 공기 접합부 대 주변 열 저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G38 - 집적 회로 패키지의 정적 및 강제 공기 접합부 대 주변 열 저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06800 - SEMI M68 - 곡률 메트릭(ZDD)을 사용하여 측정된 높이 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M68 - 곡률 메트릭(ZDD)을 사용하여 측정된 높이 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F02300 - SEMI F23 - 등급 10/0.2 수소의 입자 농도 사양
SEMI F23 - 등급 10/0.2 수소의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06400 - SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトル法による絶縁(SI)가리움히素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法
SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトル法による絶縁(SI)가리움히素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
F07800 - SEMI F78 - 반도체 제조 응용 분야에서 유체 분배 시스템의 가스 텅스텐 아크(GTA) 용접 실습
SEMI F78 - 반도체 제조 응용 분야에서 유체 분배 시스템의 가스 텅스텐 아크(GTA) 용접 실습 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩572,000
M07500 - SEMI M75 - 연마된 단결정 갈륨 안티몬화물 웨이퍼 사양
SEMI M75 - 연마된 단결정 갈륨 안티몬화물 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M03500 - SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのgaid
SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのgaid 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
F04400 - SEMI F44 - 가공된 스테인리스강 용접 피팅 사양
SEMI F44 - 가공된 스테인리스강 용접 피팅 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
G05100 - SEMI G51 - 프라스틱크모르드・쿠앗드후랏트팍크・리드후레임 주의 사항
SEMI G51 - 프라스틱크모르드・쿠앗드후랏트팍크・리드후레임 주의 사항 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G08600 - SEMI G86 - 3점 굽힘을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법
SEMI G86 - 3점 굽힘을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M05400 - SEMI M54 - 半絶縁性(SI)GaAs계 파라메타 가이드
SEMI M54 - 半絶縁性(SI)GaAs계 파라메타 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G05500 - SEMI G55 - 은도금 밝기 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G55 - 은도금 밝기 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF180900 - SEMI MF1809 - 실리콘의 구조적 결함을 묘사하기 위한 에칭 솔루션의 선택 및 사용 가이드
SEMI MF1809 - 실리콘의 구조적 결함을 묘사하기 위한 에칭 솔루션의 선택 및 사용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M00100 - SEMI M1 - 광택 단결정 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M1 - 광택 단결정 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩572,000
M01600 - SEMI M16 - 다전 시리즈 사양
SEMI M16 - 다전 시리즈 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
HB00500 - SEMI HB5 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 톱니 자국 측정을 위한 테스트 방법
SEMI HB5 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 톱니 자국 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04100 - SEMI M41 - 전자 데바이스/IC용 시리콘・온・인슈레이타(SOI)の仕様
SEMI M41 - 전자 데바이스/IC용 시리콘・온・인슈레이타(SOI)の仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G06300 - SEMI G63 - ダイ剪断強度の測定方法
SEMI G63 - ダイ剪断強度の測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
HB00100 - SEMI HB1 - 고휘도 발광 다이오드 장치 제조용 사파이어 웨이퍼 사양
SEMI HB1 - 고휘도 발광 다이오드 장치 제조용 사파이어 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G08100 - SEMI G81 - 지도 데이터 항목 사양
SEMI G81 - 지도 데이터 항목 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G04900 - SEMI G49 - 플라스틱 성형 프리폼 사양
SEMI G49 - 플라스틱 성형 프리폼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF213900 - SEMI MF2139 - 2차 이온 질량분석법으로 실리콘 기판의 질소 농도를 측정하는 테스트 방법
SEMI MF2139 - 2차 이온 질량분석법으로 실리콘 기판의 질소 농도를 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000