SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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M05700 - SEMI M57 - 실리콘 열처리 웨이퍼 사양
SEMI M57 - 실리콘 열처리 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04400 - SEMI M44 - 시리콘중의 酸素の換算係数가이드
SEMI M44 - 시리콘중의 酸素の換算係数가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
F07600 - SEMI F76 - 부식성 가스에 노출된 가스 시스템 구성 요소의 입자 기여 평가를 위한 테스트 방법
SEMI F76 - 부식성 가스에 노출된 가스 시스템 구성 요소의 입자 기여 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M08700 - SEMI M87 - 반절연 반도체의 비접촉 비저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M87 - 반절연 반도체의 비접촉 비저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02900 - SEMI G29 - 몰딩 컴파운드의 미량 오염 물질에 대한 테스트 방법
SEMI G29 - 몰딩 컴파운드의 미량 오염 물질에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G05500 - SEMI G55 - 리드후레임 차광 강도의 결정 방식
SEMI G55 - 리드후레임 차광 강도의 결정 방식 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G02800 - SEMI G28 - 플라스틱 성형 SO 패키지용 리드프레임 사양
SEMI G28 - 플라스틱 성형 SO 패키지용 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02300 - SEMI G23 - 반도체 패키지의 내부 트레이스에 대한 인덕턴스 테스트 방법
SEMI G23 - 반도체 패키지의 내부 트레이스에 대한 인덕턴스 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF163000 - SEMI MF1630 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 저온 FT-IR 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1630 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 저온 FT-IR 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M04300 - SEMI M43 - 웨이퍼 나노토포그래피 보고 가이드
SEMI M43 - 웨이퍼 나노토포그래피 보고 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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G02400 - SEMI G24 - 팍케이지・리드間の容量および付加容量の測定のための試験方法
SEMI G24 - 팍케이지・리드間の容量および付加容量の測定のための試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF115200 - SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법
SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
ME139200 - SEMI ME1392 - Specular 또는 Diffuse Surfaces에서 Angle Resolved Optical Scatter 측정 가이드
SEMI ME1392 - Specular 또는 Diffuse Surfaces에서 Angle Resolved Optical Scatter 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF072800 - SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습
SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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M08500 - SEMI M85 - 유도 결합 플라즈마 질량분석법을 통한 실리콘 웨이퍼 표면의 미량 금속 오염 측정 가이드
SEMI M85 - 유도 결합 플라즈마 질량분석법을 통한 실리콘 웨이퍼 표면의 미량 금속 오염 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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F06100 - SEMI F61 - 반도체 초순수 시스템의 설계 및 작동 가이드
SEMI F61 - 반도체 초순수 시스템의 설계 및 작동 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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M06600 - SEMI M66 - MIS 플랫 밴드 전압 절연체 두께 기법을 사용하여 산화물 및 고유전율 게이트 스택에서 유효 일함수를 추출하는 테스트 방법
SEMI M66 - MIS 플랫 밴드 전압 절연체 두께 기법을 사용하여 산화물 및 고유전율 게이트 스택에서 유효 일함수를 추출하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04500 - SEMI M45 - 300mm 웨이퍼 운송 시스템 사양
SEMI M45 - 300mm 웨이퍼 운송 시스템 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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MF152900 - SEMI MF1529 - 이중 구성 절차를 사용하는 인라인 4점 프로브에 의한 시트 저항 균일성 평가를 위한 테스트 방법
SEMI MF1529 - 이중 구성 절차를 사용하는 인라인 4점 프로브에 의한 시트 저항 균일성 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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G04500 - SEMI G45 - 열경화성 몰딩 컴파운드의 플래시 특성 실습
SEMI G45 - 열경화성 몰딩 컴파운드의 플래시 특성 실습 할인 가격Member Price: ₩113
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M04600 - SEMI M46 - ECV 법에 따라 에피타키시야의 캘리 아 인 도 프로 파 일을 확신 하는 방법
SEMI M46 - ECV 법에 따라 에피타키시야의 캘리 아 인 도 프로 파 일을 확신 하는 방법 할인 가격Member Price: ₩135
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M01700 - SEMI M17 - 범용 웨이퍼 그리드용 가이드
SEMI M17 - 범용 웨이퍼 그리드용 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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M05400 - SEMI M54 - 반절연(SI) GaAs 재료 매개변수 가이드
SEMI M54 - 반절연(SI) GaAs 재료 매개변수 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF011000 - SEMI MF110 - 각도 래핑 및 염색 기법에 의한 실리콘의 에피택셜 또는 확산층 두께 테스트 방법
SEMI MF110 - 각도 래핑 및 염색 기법에 의한 실리콘의 에피택셜 또는 확산층 두께 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000