SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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M08400 - SEMI M84 - 갈륨 질화물-온-실리콘 애플리케이션용 연마 단결정 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M84 - 갈륨 질화물-온-실리콘 애플리케이션용 연마 단결정 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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MF198200 - SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07000 - SEMI G70 - 플라스틱 패키지 리드프레임 측정을 위한 장비 및 리드프레임 고정 장치용 표준
SEMI G70 - 플라스틱 패키지 리드프레임 측정을 위한 장비 및 리드프레임 고정 장치용 표준 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02500 - SEMI G25 - 팍케이지・리드抵抗の測定のための試験方法
SEMI G25 - 팍케이지・리드抵抗の測定のための試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M07400 - SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양
SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G06600 - SEMI G66 - 반도체 플라스틱 몰딩 컴파운드의 수분 흡수 특성 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G66 - 반도체 플라스틱 몰딩 컴파운드의 수분 흡수 특성 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF138900 - SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G04300 - SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09600 - SEMI G96 - 캔틸레버 벤딩을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법
SEMI G96 - 캔틸레버 벤딩을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법 할인 가격 Member Price : ₩113
MF139100 - SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법
SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법 할인 가격Member Price: ₩113
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MF138800 - SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법
SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G08900 - SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양
SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M06200 - SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양
SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
MF039100 - SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법
SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M00600 - SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様
SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
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MF207400 - SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드
SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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HB00800 - SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법
SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F07000 - SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법
SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF152800 - SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법
SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G04100 - SEMI G41 - 듀얼 스트립 SOIC 리드프레임 사양
SEMI G41 - 듀얼 스트립 SOIC 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF172600 - SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습
SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09300 - SEMI G93 - 보르・그릿드・아레이(BGA)팍케이지용 はんだボールの測定方法
SEMI G93 - 보르・그릿드・아레이(BGA)팍케이지용 はんだボールの測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF181100 - SEMI MF1811 - 표면 프로필 데이터에서 전력 스펙트럼 밀도 함수 및 관련 마감 매개변수를 추정하기 위한 안내서
SEMI MF1811 - 표면 프로필 데이터에서 전력 스펙트럼 밀도 함수 및 관련 마감 매개변수를 추정하기 위한 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06500 - SEMI M65 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하에 사용하는 사파이아기모의 仕様
SEMI M65 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하에 사용하는 사파이아기모의 仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000