SEMI 3D16 - 반도체 패키징용 유리 기본 재료 사양

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MF002800 - SEMI MF28 - 광전도성 붕괴 측정에 의한 벌크 게르마늄 및 실리콘의 소수 캐리어 수명 테스트 방법
SEMI MF28 - 광전도성 붕괴 측정에 의한 벌크 게르마늄 및 실리콘의 소수 캐리어 수명 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01000 - SEMI G10 - 프라스틱크팩케이지리드후레임의 구조에 대한 결정 방식
SEMI G10 - 프라스틱크팩케이지리드후레임의 구조에 대한 결정 방식 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M05000 - SEMI M50 - 오버레이 방법으로 표면 스캐닝 검사 시스템의 캡처율 및 오계수율을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M50 - 오버레이 방법으로 표면 스캐닝 검사 시스템의 캡처율 및 오계수율을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G03100 - SEMI G31 - 몰딩 컴파운드의 연마 특성 결정을 위한 테스트 방법
SEMI G31 - 몰딩 컴파운드의 연마 특성 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E01000 - SEMI E10 - 장비 신뢰성, 가용성, 유지보수성(RAM) 및 활용도의 정의 및 측정을 위한 사양
SEMI E10 - 장비 신뢰성, 가용성, 유지보수성(RAM) 및 활용도의 정의 및 측정을 위한 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩572,000
E03700 - SEMI E37 - 고속 SECS 메시지 서비스(HSMS) 일반 서비스 사양
SEMI E37 - 고속 SECS 메시지 서비스(HSMS) 일반 서비스 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩572,000
E04000 - SEMI E40 - 처리 관리 사양
SEMI E40 - 처리 관리 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E00400 - SEMI E4 - SEMI 장비 통신 표준 1 메시지 전송 사양(SECS-I)
SEMI E4 - SEMI 장비 통신 표준 1 메시지 전송 사양(SECS-I) 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09700 - SEMI G97 - 얇은 칩 처리에 사용되는 접착 트레이 사양
SEMI G97 - 얇은 칩 처리에 사용되는 접착 트레이 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E03900 - SEMI E39 - 개체 서비스 사양: 개념, 동작 및 서비스
SEMI E39 - 개체 서비스 사양: 개념, 동작 및 서비스 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F10500 - SEMI F105 - 가스 분배 시스템의 금속 재료 호환성 가이드
SEMI F105 - 가스 분배 시스템의 금속 재료 호환성 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF136600 - SEMI MF1366 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 실리콘 기판의 산소 농도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1366 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 실리콘 기판의 산소 농도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07000 - SEMI M70 - 부분 웨이퍼 부위 평탄도를 사용하여 웨이퍼에 가까운 가장자리 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI M70 - 부분 웨이퍼 부위 평탄도를 사용하여 웨이퍼에 가까운 가장자리 형상을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E00500 - SEMI E5 - 半導体製造装置通信standard2 멧세이지(SECS-II)
SEMI E5 - 半導体製造装置通信standard2 멧세이지(SECS-II) 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩687,000
E13200 - SEMI E132 - 장비 클라이언트 인증 및 승인 사양
SEMI E132 - 장비 클라이언트 인증 및 승인 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
E11600 - SEMI E116 - 장비 성능 추적 사양
SEMI E116 - 장비 성능 추적 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩572,000
E09000 - SEMI E90 - 기판 추적 사양
SEMI E90 - 기판 추적 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
세계 팹 예측 - 구독
세계 팹 예측 구독 할인 가격Member Price: ₩6,300
Non-Member Price: ₩16,686,000
MF115300 - SEMI MF1153 - 커패시턴스-전압 측정에 의한 금속 산화물 실리콘(MOS) 구조의 특성화를 위한 테스트 방법
SEMI MF1153 - 커패시턴스-전압 측정에 의한 금속 산화물 실리콘(MOS) 구조의 특성화를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02000 - SEMI G20 - 플라스틱 패키지용 리드 마감 사양(활성 장치만 해당)
SEMI G20 - 플라스틱 패키지용 리드 마감 사양(활성 장치만 해당) 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E15300 - SEMI E153 - AMHS SEM 사양(AMHS SEM)
SEMI E153 - AMHS SEM 사양(AMHS SEM) 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F03800 - SEMI F38 - 사용 지점 가스 필터의 효율성 검증을 위한 테스트 방법
SEMI F38 - 사용 지점 가스 필터의 효율성 검증을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01500 - SEMI G15 - 몰딩 컴파운드의 시차주사열량계를 위한 표준 테스트 방법
SEMI G15 - 몰딩 컴파운드의 시차주사열량계를 위한 표준 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
E15700 - SEMI E157 - 모듈 프로세스 추적 사양E15700 - SEMI E157 - 모듈 프로세스 추적 사양
SEMI E157 - 모듈 프로세스 추적 사양 할인 가격 Member Price : ₩113