SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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1625 製品

C00604 - SEMI C6.4 - パイプラインガスとして供給されるグレード 20/0.02 窒素 (N2) およびアルゴン (Ar) の粒子仕様
SEMI C6.4 - パイプラインガスとして供給されるグレード 20/0.02 窒素 (N2) およびアルゴン (Ar) の粒子仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00349 - SEMI C3.49 - バルク窒素 (N2) の規格、99.99999% の品質
SEMI C3.49 - バルク窒素 (N2) の規格、99.99999% の品質 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00602 - SEMI C6.2 - パイプラインガスとして授受されるグレード20/0.02酸素に対するパーティクル仕様
SEMI C6.2 - パイプラインガスとして授受されるグレード20/0.02酸素に対するパーティクル仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C00330 - SEMI C3.30 - 水素 (H2)、バルク、99.9997% 品質の規格
SEMI C3.30 - 水素 (H2)、バルク、99.9997% 品質の規格 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00348 - SEMI C3.48 - 窒素 (N2)、バルク液体、99.9994% 品質の規格
SEMI C3.48 - 窒素 (N2)、バルク液体、99.9994% 品質の規格 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07600 - SEMI G76 - テープキャリアパッケージ (TCP) で使用されるポリイミドベースの粘着テープの仕様
SEMI G76 - テープキャリアパッケージ (TCP) で使用されるポリイミドベースの粘着テープの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03400 - SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01400 - SEMI P14 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のスズの測定
SEMI P14 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のスズの測定 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02300 - SEMI P23 - プログラム欠陥マスクおよびマスク欠陥検査システムの感覚分析ベンチマーク手順についてのガイドライン
SEMI P23 - プログラム欠陥マスクおよびマスク欠陥検査システムの感覚分析ベンチマーク手順についてのガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01400 - SEMI P14 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中の錫の測定
SEMI P14 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト中の錫の測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01900 - SEMI P19 - 集積回路製造用の計測パターンセルの仕様
SEMI P19 - 集積回路製造用の計測パターンセルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03700 - SEMI M37 - 低転位密度Inp基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法
SEMI M37 - 低転位密度Inp基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04700 - SEMI P47 - ラインエッジ粗さおよび線幅粗さの評価のための試験方法
SEMI P47 - ラインエッジ粗さおよび線幅粗さの評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04300 - SEMI P43 - フォトマスク認定用語
SEMI P43 - フォトマスク認定用語 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00300 - SEMI P3 - レジスト付きクロムブランク
SEMI P3 - レジスト付きクロムブランク セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03500 - SEMI P35 - マイクロリソグラフィー計測の用語
SEMI P35 - マイクロリソグラフィー計測の用語 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01000 - SEMI P10 - フォトマスク注文のデータ構造の仕様
SEMI P10 - フォトマスク注文のデータ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08500 - SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様
SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03700 - SEMI M37 - 低転位密度リン化インジウムウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法
SEMI M37 - 低転位密度リン化インジウムウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00600 - SEMI P6 - フォトマスクのレジストレーションマークの仕様
SEMI P6 - フォトマスクのレジストレーションマークの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07900 - SEMI G79 - 全体的なデジタル タイミング精度の仕様
SEMI G79 - 全体的なデジタル タイミング精度の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00600 - SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク
SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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