
SEMI G79 - 全体的なデジタル タイミング精度の仕様 -
Abstract
この規格は、世界的な自動試験装置技術委員会によって技術的に承認されました。この版は、2011 年 12 月 24 日にグローバル監査およびレビュー小委員会によって出版が承認されました。2012 年 5 月に www.semiviews.org および www.semi.org で入手可能になります。初版は 2000 年 2 月に出版されました。
この規格は、半導体自動テスト装置 (ATE) のタイミング精度仕様の最小限の共通定義を提供することを目的としています。
参照されるSEMI規格なし。
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G07900 - SEMI G79 - 全体的なデジタル タイミング精度の仕様
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