SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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P01900 - SEMI P19 - 蓄積回路製造用メトロロジパターンセル
SEMI P19 - 蓄積回路製造用メトロロジパターンセル セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04200 - SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03700 - SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様
SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02500 - SEMI P25 - 焦点深度および最適焦点深度（仕様）
SEMI P25 - 焦点深度および最適焦点深度（仕様） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G03000 - SEMI G30 - セラミックパッケージのジャンクション-ケース間熱抵抗測定の試験方法
SEMI G30 - セラミックパッケージのジャンクション-ケース間熱抵抗測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08400 - SEMI G84 - ストリップ マップ プロトコルの仕様
SEMI G84 - ストリップ マップ プロトコルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01800 - SEMI M18 - シリコンウェーハ発注仕様書開発のガディッド
SEMI M18 - シリコンウェーハ発注仕様書開発のガディッド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02600 - SEMI P26 - フォトレジスト感度測定用パラメータチェックリスト
SEMI P26 - フォトレジスト感度測定用パラメータチェックリスト セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03200 - SEMI P32 - フォトレジスト中のトレース金属定量のための試験方法
SEMI P32 - フォトレジスト中のトレース金属定量のための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02600 - SEMI M26 - ウェーハの運搬に使用される100 mm，125 mm，150 mm，200 mmウェーハシッピングボックスの再利用ガイド
SEMI M26 - ウェーハの運搬に使用される100 mm，125 mm，150 mm，200 mmウェーハシッピングボックスの再利用ガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00700 - SEMI P7 - 粘度測定の試験方法、方法 A - 動粘度
SEMI P7 - 粘度測定の試験方法、方法 A - 動粘度 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01400 - SEMI M14 - 半絶縁性ガリウムヒ素単結晶のイオン注入および活性化プロセスの仕様
SEMI M14 - 半絶縁性ガリウムヒ素単結晶のイオン注入および活性化プロセスの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02700 - SEMI P27 - 基板上のレジスト厚さ測定のためのパラメータチェックリスト
SEMI P27 - 基板上のレジスト厚さ測定のためのパラメータチェックリスト セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00100 - SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板
SEMI P1 - ハードサーフェス・フォトマスク用基板 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01400 - SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様）
SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G00800 - SEMI G8 - 金めっきの試験方法
SEMI G8 - 金めっきの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01100 - SEMI P11 - アルカリ現像液の完全な正規性を判定するための試験方法
SEMI P11 - アルカリ現像液の完全な正規性を判定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08500 - SEMI G85 - 地図データ形式の仕様
SEMI G85 - 地図データ形式の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02700 - SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメーターチェックリスト
SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメーターチェックリスト セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07600 - SEMI M76 - 開発用直径450 mm シリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発用直径450 mm シリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様 通常価格¥59,400 JPY セール価格¥38,100 JPY
P02100 - SEMI P21 - マスク描画装置の精度および精度表現に関するガイドライン
SEMI P21 - マスク描画装置の精度および精度表現に関するガイドライン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F00400 - SEMI F4 - 空気圧作動シリンダーバルブの仕様
SEMI F4 - 空気圧作動シリンダーバルブの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F09400 - SEMI F94 - 1.5 インチ 4 つのファスナー構成タイプの表面実装ガス分配システム用の 2 ポート コンポーネント (MFC/MFM を除く) の寸法の仕様F09400 - SEMI F94 - 1.5 インチ 4 つのファスナー構成タイプの表面実装ガス分配システム用の 2 ポート コンポーネント (MFC/MFM を除く) の寸法の仕様
SEMI F94 - 1.5 インチ 4 つのファスナー構成タイプの表面実装ガス分配システム用の 2 ポート コンポーネント (MFC/MFM を除く) の寸法の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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