SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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1625 製品

P02400 - SEMI P24 - CD 計測手順
SEMI P24 - CD 計測手順 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07100 - SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法
SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥38,100 JPY
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01300 - SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定
SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G03200 - SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン
SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01600 - SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）留保液中の錫の測定
SEMI P16 - 黒鉛炉原子吸光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）留保液中の錫の測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01600 - SEMI P16 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のスズの定量
SEMI P16 - グラファイト炉原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のスズの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02400 - SEMI P24 - CD測長手順
SEMI P24 - CD測長手順 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01900 - SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様）
SEMI M19 - バルク・ガリウムヒ素単結晶基板の電気的性質（仕様） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MS00600 - SEMI MS6 - マイクロ流体システムを接続するための設計と材料のガイド
SEMI MS6 - マイクロ流体システムを接続するための設計と材料のガイド 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
M01900 - SEMI M19 - バルクガリウムヒ素単結晶基板の電気的特性の仕様
SEMI M19 - バルクガリウムヒ素単結晶基板の電気的特性の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00800 - SEMI P8 - フォトレジスト中の水分を測定するための試験方法
SEMI P8 - フォトレジスト中の水分を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02000 - SEMI P20 - EBレジストパラメータのカタログ掲載に関するガイドライン（案）
SEMI P20 - EBレジストパラメータのカタログ掲載に関するガイドライン（案） セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03000 - SEMI P30 - 限界寸法測定走査型電子顕微鏡（CD-SEM）のカタログ発行の実務
SEMI P30 - 限界寸法測定走査型電子顕微鏡（CD-SEM）のカタログ発行の実務 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04100 - SEMI P41 - XMLによる，検査装置，修正装置およびレビュー装置間で取扱うマスク欠陥データ仕様
SEMI P41 - XMLによる，検査装置，修正装置およびレビュー装置間で取扱うマスク欠陥データ仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03100 - SEMI P31 - 化学増幅型 (CA) フォトレジストパラメータのカタログ発行の実践
SEMI P31 - 化学増幅型 (CA) フォトレジストパラメータのカタログ発行の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁性 GaAs 単結晶の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を決定するための試験方法
SEMI M39 - 半絶縁性 GaAs 単結晶の抵抗率とホール係数を測定し、ホール移動度を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00200 - SEMI P2 - ハードサーフェス・フォトマスク用クロムブランク
SEMI P2 - ハードサーフェス・フォトマスク用クロムブランク セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01500 - SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のナトリウムとカリウムの定量
SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のナトリウムとカリウムの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01500 - SEMI P15 - 原子光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）漸減液中の吸湿とカリウムの測定
SEMI P15 - 原子光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）漸減液中の吸湿とカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法
SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00200 - SEMI P2 - 硬質表面フォトマスク用クロム薄膜の仕様
SEMI P2 - 硬質表面フォトマスク用クロム薄膜の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04200 - SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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