SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

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P01100 - SEMI P11 - アルカリ揮発性溶液に対する全規定度の測定のテスト方法
SEMI P11 - アルカリ揮発性溶液に対する全規定度の測定のテスト方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02600 - SEMI P26 - フォトレジストの感情測定用パラメーターチェックリスト
SEMI P26 - フォトレジストの感情測定用パラメーターチェックリスト セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03400 - SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン
SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MS00900 - SEMI MS9 - マイクロ流体デバイス間の高密度永久接続の仕様
SEMI MS9 - マイクロ流体デバイス間の高密度永久接続の仕様 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01500 - SEMI M15 - 半絶縁ガリウムヒ素ウェーハの研磨ウェーハ欠陥限界表
SEMI M15 - 半絶縁ガリウムヒ素ウェーハの研磨ウェーハ欠陥限界表 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02300 - SEMI P23 - プログラムされた欠陥マスクのガイドラインとマスク欠陥検査システムの感度分析のベンチマーク手順
SEMI P23 - プログラムされた欠陥マスクのガイドラインとマスク欠陥検査システムの感度分析のベンチマーク手順 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV00400 - SEMI PV4 - 薄膜太陽光発電アプリケーション向けの第 5 世代基板サイズの範囲の仕様
SEMI PV4 - 薄膜太陽光発電アプリケーション向けの第 5 世代基板サイズの範囲の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03200 - SEMI P32 - フォトレジスト中の微量金属を測定するための試験方法
SEMI P32 - フォトレジスト中の微量金属を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度ガリウムヒ素ウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法
SEMI M36 - 低転位密度ガリウムヒ素ウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04100 - SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様
SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08000 - SEMI G80 - 自動テスト装置の全体的なデジタル タイミング精度を分析するためのテスト方法
SEMI G80 - 自動テスト装置の全体的なデジタル タイミング精度を分析するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G01900 - SEMI G19 - エッチングにより製造されたディップリードフレームの仕様
SEMI G19 - エッチングにより製造されたディップリードフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07200 - SEMI G72 - ボール グリッド アレイ設計ライブラリの仕様
SEMI G72 - ボール グリッド アレイ設計ライブラリの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02500 - SEMI P25 - 焦点深度とベストフォーカスの測定仕様
SEMI P25 - 焦点深度とベストフォーカスの測定仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M01500 - SEMI M15 - 半絶縁リウムヒ素ウェーハ用の鏡面ウェーハの屋外表面欠陥表
SEMI M15 - 半絶縁リウムヒ素ウェーハ用の鏡面ウェーハの屋外表面欠陥表 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターンの仕様
SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターンの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MS00700 - SEMI MS7 - 電子デバイスパッケージへのマイクロ流体インターフェースの仕様
SEMI MS7 - 電子デバイスパッケージへのマイクロ流体インターフェースの仕様 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
G05800 - SEMI G58 - Cerquad パッケージ構造の仕様
SEMI G58 - Cerquad パッケージ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00100 - SEMI P1 - 硬質表面フォトマスク基板の仕様
SEMI P1 - 硬質表面フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01800 - SEMI P18 - ウェーハステッパーのオーバーレイ機能の仕様
SEMI P18 - ウェーハステッパーのオーバーレイ機能の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02100 - SEMI P21 - マスク描画装置の精度表示のガイドライン
SEMI P21 - マスク描画装置の精度表示のガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）における鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、およびニッケルの測定
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）における鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、およびニッケルの測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
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