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E17100 - SEMI E171 - 予測運送業者物流 (PCL) の仕様
SEMI E171 - 予測運送業者物流 (PCL) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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E13000 - SEMI E130 - 300 mm 環境用プローバ特定機器モデルの仕様 (PSEM300)
SEMI E130 - 300 mm 環境用プローバ特定機器モデルの仕様 (PSEM300) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D05900 - SEMI D59 - 3D ディスプレイの用語
SEMI D59 - 3D ディスプレイの用語 セール価格Member Price: ¥113
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F04300 - SEMI F43 - ユースポイントガス精製器およびガスフィルタによるパーティクルに対する最適度を定量化するための試験方法
SEMI F43 - ユースポイントガス精製器およびガスフィルタによるパーティクルに対する最適度を定量化するための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
E05411 - SEMI E54.11 - エンドポイント デバイスのセンサー/アクチュエーター ネットワーク固有のデバイス モデルの仕様
SEMI E54.11 - エンドポイント デバイスのセンサー/アクチュエーター ネットワーク固有のデバイス モデルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F10400 - SEMI F104 - 超純水および液体化学薬品供給システムで使用されるコンポーネントの粒子寄与率を評価するための試験方法
SEMI F104 - 超純水および液体化学薬品供給システムで使用されるコンポーネントの粒子寄与率を評価するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F09700 - SEMI F97 - 施設パッケージの統合、監視および制御の仕様
SEMI F97 - 施設パッケージの統合、監視および制御の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D05800 - SEMI D58 - フィールドシーケンシャルカラーディスプレイのカラーブレークアップの用語とテストパターン
SEMI D58 - フィールドシーケンシャルカラーディスプレイのカラーブレークアップの用語とテストパターン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05100 - SEMI E51 - 典型的な施設サービスと終了マトリックスのガイド
SEMI E51 - 典型的な施設サービスと終了マトリックスのガイド セール価格Member Price: ¥113
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E01200 - SEMI E12 - マスフローメータおよびマスフローコントローラで使用される標準化された圧力、温度、密度、および流量単位のガイド
SEMI E12 - マスフローメータおよびマスフローコントローラで使用される標準化された圧力、温度、密度、および流量単位のガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F03200 - SEMI F32 - 高純度遮断バルブの流量係数を決定するための試験方法
SEMI F32 - 高純度遮断バルブの流量係数を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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E09400 - SEMI E94 - 制御ジョブ管理の仕様
SEMI E94 - 制御ジョブ管理の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
E05700 - SEMI E57 - 300 mm ウェーハキャリアの位置合わせとサポートに使用されるキネマティックカップリングの仕様
SEMI E57 - 300 mm ウェーハキャリアの位置合わせとサポートに使用されるキネマティックカップリングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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F04900 - SEMI F49 - 半導体工場システムの電圧低下耐性ガイド
SEMI F49 - 半導体工場システムの電圧低下耐性ガイド セール価格Member Price: ¥113
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E07600 - SEMI E76 - 300 mm プロセス機器の施設サービスへの接続ポイントのガイド
SEMI E76 - 300 mm プロセス機器の施設サービスへの接続ポイントのガイド セール価格Member Price: ¥113
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E07900 - SEMI E79 - 機器の生産性の定義と測定に関する仕様
SEMI E79 - 機器の生産性の定義と測定に関する仕様 セール価格Member Price: ¥113
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E11500 - SEMI E115 - 半導体処理装置の RF 電力供給システムで使用される整合ネットワークの負荷インピーダンスと効率を決定するためのテスト方法
SEMI E115 - 半導体処理装置の RF 電力供給システムで使用される整合ネットワークの負荷インピーダンスと効率を決定するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E02200 - SEMI E22 - クラスタ ツール モジュール インターフェイスの仕様: トランスポート モジュール エンド エフェクタ除外ボリューム
SEMI E22 - クラスタ ツール モジュール インターフェイスの仕様: トランスポート モジュール エンド エフェクタ除外ボリューム セール価格Member Price: ¥113
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D05500 - SEMI D55 - カラーフィルターアセンブリの色性能の評価方法ガイド（色純度の評価方法）
SEMI D55 - カラーフィルターアセンブリの色性能の評価方法ガイド（色純度の評価方法） セール価格Member Price: ¥113
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E16900 - SEMI E169 - 機器情報システムセキュリティガイド
SEMI E169 - 機器情報システムセキュリティガイド セール価格Member Price: ¥113
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E04900 - SEMI E49 - 高純度および超高純度の配管性能、サブアセンブリ、および最終アセンブリに関するガイド
SEMI E49 - 高純度および超高純度の配管性能、サブアセンブリ、および最終アセンブリに関するガイド セール価格Member Price: ¥225
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F04100 - SEMI F41 - 半導体プロセスで使用されるバルク化学物質分配システムの認定ガイド
SEMI F41 - 半導体プロセスで使用されるバルク化学物質分配システムの認定ガイド セール価格Member Price: ¥113
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F07200 - SEMI F72 - 不動態化された 316L ステンレス鋼コンポーネントの接液面の酸化層のオージェ電子分光法 (AES) 評価の試験方法
SEMI F72 - 不動態化された 316L ステンレス鋼コンポーネントの接液面の酸化層のオージェ電子分光法 (AES) 評価の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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D05600 - SEMI D56 - 液晶ディスプレイの周囲コントラストを測定するための試験方法
SEMI D56 - 液晶ディスプレイの周囲コントラストを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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