SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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M02100 - SEMI M21 - デカルト配列内の長方形要素にアドレスを割り当てるためのガイド
SEMI M21 - デカルト配列内の長方形要素にアドレスを割り当てるためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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F02500 - SEMI F25 - グレード 10/0.2 酸化剤特殊ガスの粒子濃度の仕様
SEMI F25 - グレード 10/0.2 酸化剤特殊ガスの粒子濃度の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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M06100 - SEMI M61 - 埋め込み層を備えたシリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M61 - 埋め込み層を備えたシリコンエピタキシャルウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用途向けの円形 100 mm 研磨単結晶ゲルマニウム ウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用途向けの円形 100 mm 研磨単結晶ゲルマニウム ウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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MF156900 - SEMI MF1569 - 半導体技術のコンセンサス参考資料作成ガイド
SEMI MF1569 - 半導体技術のコンセンサス参考資料作成ガイド セール価格Member Price: ¥113
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G01500 - SEMI G15 - モールディングコンパウンド表示差走査熱量分析の標準試験方法
SEMI G15 - モールディングコンパウンド表示差走査熱量分析の標準試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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MF172500 - SEMI MF1725 - シリコンインゴットの結晶学的完全性の解析の実践
SEMI MF1725 - シリコンインゴットの結晶学的完全性の解析の実践 セール価格Member Price: ¥113
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MF067200 - SEMI MF672 - 広がり抵抗プローブを使用してシリコンウェーハの表面に垂直な抵抗率プロファイルを測定するためのガイド
SEMI MF672 - 広がり抵抗プローブを使用してシリコンウェーハの表面に垂直な抵抗率プロファイルを測定するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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M06500 - SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様
SEMI M65 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハに使用するサファイア基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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G06300 - SEMI G63 - ダイせん断強度の測定のための試験方法
SEMI G63 - ダイせん断強度の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレーター（SOI）ウェーハのための仕様
SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレーター（SOI）ウェーハのための仕様 セール価格Member Price: ¥135
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MF067100 - SEMI MF671 - シリコンおよびその他の電子材料のウェーハ上の平坦長さを測定するための試験方法
SEMI MF671 - シリコンおよびその他の電子材料のウェーハ上の平坦長さを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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M04200 - SEMI M42 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M42 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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M03800 - SEMI M38 - 研磨再生シリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 研磨再生シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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G02400 - SEMI G24 - パッケージリードのリード間および負荷容量を測定するための試験方法
SEMI G24 - パッケージリードのリード間および負荷容量を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF161700 - SEMI MF1617 - 二次イオン質量分析によるシリコンおよびEPI基板の表面のナトリウム、アルミニウム、カリウム、および鉄を測定するための試験方法
SEMI MF1617 - 二次イオン質量分析によるシリコンおよびEPI基板の表面のナトリウム、アルミニウム、カリウム、および鉄を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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M05100 - SEMI M51 - ゲート酸化膜の完全性によるシリコンウェーハの特性評価のための試験方法
SEMI M51 - ゲート酸化膜の完全性によるシリコンウェーハの特性評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF177100 - SEMI MF1771 - 電圧ランプ技術によるゲート酸化膜の完全性を評価するための試験方法
SEMI MF1771 - 電圧ランプ技術によるゲート酸化膜の完全性を評価するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G05100 - SEMI G51 - プラスチック成形 (メートル法) クアッド フラット パック リードフレームの仕様
SEMI G51 - プラスチック成形 (メートル法) クアッド フラット パック リードフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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F02000 - SEMI F20 - 汎用、高純度および超高純度の半導体製造用途で使用されるコンポーネント用の 316L ステンレス鋼の棒、鍛造品、押出形材、プレート、およびチューブの仕様
SEMI F20 - 汎用、高純度および超高純度の半導体製造用途で使用されるコンポーネント用の 316L ステンレス鋼の棒、鍛造品、押出形材、プレート、およびチューブの仕様 セール価格Member Price: ¥225
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G06700 - SEMI G67 - シート材料からの粒子発生の測定のための試験方法
SEMI G67 - シート材料からの粒子発生の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G09400 - SEMI G94 - 300 mm ウェーハ用コインスタック型テープフレーム輸送コンテナの仕様
SEMI G94 - 300 mm ウェーハ用コインスタック型テープフレーム輸送コンテナの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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M04000 - SEMI M40 - シリコンウェーハ表面のラフネス測定のガイド
SEMI M40 - シリコンウェーハ表面のラフネス測定のガイド セール価格Member Price: ¥135
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G02100 - SEMI G21 - 集積回路リードフレームのめっき仕様
SEMI G21 - 集積回路リードフレームのめっき仕様 セール価格Member Price: ¥113
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