SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレータ(SOI)ウェーハの仕様
SEMI M71 - CMOS LSI用シリコン・オン・インシュレータ(SOI)ウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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G09500 - SEMI G95 - 後工程における450mmウェーハ用テープフレームカセットのためのロードポートの機械的インターフェースの仕様
SEMI G95 - 後工程における450mmウェーハ用テープフレームカセットのためのロードポートの機械的インターフェースの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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MF139000 - SEMI MF1390 - 自動非接触スキャンによるシリコンウェーハの反りおよび反りを測定するための試験方法
SEMI MF1390 - 自動非接触スキャンによるシリコンウェーハの反りおよび反りを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G07100 - SEMI G71 - 包装材料用中間容器のバーコードマーキングの仕様
SEMI G71 - 包装材料用中間容器のバーコードマーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06700 - SEMI M67 - ESFQR、ESFQD、およびESBIRメトリクスを使用して、測定された厚さのデータ配列からウェーハのニアエッジ形状を決定するためのテスト方法
SEMI M67 - ESFQR、ESFQD、およびESBIRメトリクスを使用して、測定された厚さのデータ配列からウェーハのニアエッジ形状を決定するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F05400 - SEMI F54 - 凝縮核計数器の計数効率を測定するための試験方法
SEMI F54 - 凝縮核計数器の計数効率を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF072300 - SEMI MF723 - ホウ素ドープ、リンドープ、およびヒ素ドープのシリコンの抵抗率とドーパントまたはキャリア密度の間の変換の実践
SEMI MF723 - ホウ素ドープ、リンドープ、およびヒ素ドープのシリコンの抵抗率とドーパントまたはキャリア密度の間の変換の実践 セール価格Member Price: ¥113
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M01700 - SEMI M17 - 一般的なウェーハグリッドのガイド
SEMI M17 - 一般的なウェーハグリッドのガイド セール価格Member Price: ¥135
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MF181000 - SEMI MF1810 - シリコンウェーハの優先的にエッチングまたは装飾された表面欠陥を数える試験方法
SEMI MF1810 - シリコンウェーハの優先的にエッチングまたは装飾された表面欠陥を数える試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G06500 - SEMI G65 - L リード (ガルウィング型) パッケージに使用されるリードフレーム材料の評価試験方法
SEMI G65 - L リード (ガルウィング型) パッケージに使用されるリードフレーム材料の評価試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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F11000 - SEMI F110 - 単分散ポリスチレンラテックス (PSL) の試験方法 液体フィルターの課題
SEMI F110 - 単分散ポリスチレンラテックス (PSL) の試験方法 液体フィルターの課題 セール価格Member Price: ¥113
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MF004200 - SEMI MF42 - 外部半導体材料の導電型の試験方法
SEMI MF42 - 外部半導体材料の導電型の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF161900 - SEMI MF1619 - ブリュースター角でのp偏光放射線入射による赤外吸収分光法によるシリコンウェーハの格子間酸素含有量の測定のための試験方法
SEMI MF1619 - ブリュースター角でのp偏光放射線入射による赤外吸収分光法によるシリコンウェーハの格子間酸素含有量の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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F07500 - SEMI F75 - 半導体製造で使用される超純水の品質監視ガイド
SEMI F75 - 半導体製造で使用される超純水の品質監視ガイド セール価格Member Price: ¥113
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F10100 - SEMI F101 - ガス供給システムにおける圧力調整器の性能を決定するための試験方法
SEMI F101 - ガス供給システムにおける圧力調整器の性能を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF123900 - SEMI MF1239 - 格子間酸素還元の測定によるシリコンウェーハの酸素析出特性の試験方法
SEMI MF1239 - 格子間酸素還元の測定によるシリコンウェーハの酸素析出特性の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF002600 - SEMI MF26 - 半導体単結晶の配向を決定するための試験方法
SEMI MF26 - 半導体単結晶の配向を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF052300 - SEMI MF523 - 研磨されたシリコンウェーハ表面の肉眼による検査の実践
SEMI MF523 - 研磨されたシリコンウェーハ表面の肉眼による検査の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M06600 - SEMI M66 - MISフラットバンド電圧―絶縁膜厚法を使った、酸化膜、およびhigh-κゲートスタックの有効な仕事関数の計算方法
SEMI M66 - MISフラットバンド電圧―絶縁膜厚法を使った、酸化膜、およびhigh-κゲートスタックの有効な仕事関数の計算方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F06300 - SEMI F63 - 半導体プロセスで使用される超純水のガイド
SEMI F63 - 半導体プロセスで使用される超純水のガイド セール価格Member Price: ¥252
Non-Member Price: ¥62,700
M04100 - SEMI M41 - パワーデバイス/IC 用のシリコンオンインシュレータ (SOI) の仕様
SEMI M41 - パワーデバイス/IC 用のシリコンオンインシュレータ (SOI) の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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M05800 - SEMI M58 - DMA ベースの粒子堆積システムおよびプロセスを評価するための試験方法
SEMI M58 - DMA ベースの粒子堆積システムおよびプロセスを評価するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF161800 - SEMI MF1618 - シリコンウェーハ上の薄膜の均一性測定の実践
SEMI MF1618 - シリコンウェーハ上の薄膜の均一性測定の実践 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04600 - SEMI M46 - ECV プロファイリングによるエピタキシャル層構造内のキャリア濃度を測定するための試験方法
SEMI M46 - ECV プロファイリングによるエピタキシャル層構造内のキャリア濃度を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900