SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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G09500 - SEMI G95 - バックエンドプロセスにおけるテープフレームカセット用の 450 mm ロードポートの機械的特徴の仕様
SEMI G95 - バックエンドプロセスにおけるテープフレームカセット用の 450 mm ロードポートの機械的特徴の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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G08200 - SEMI G82 - バックエンドプロセスにおけるフレームカセット用の 300 mm ロードポートの仕様
SEMI G82 - バックエンドプロセスにおけるフレームカセット用の 300 mm ロードポートの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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F05500 - SEMI F55 - マスフローコントローラーの耐食性を決定するための試験方法
SEMI F55 - マスフローコントローラーの耐食性を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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HB00600 - SEMI HB6 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハの厚さと形状の測定のための試験方法
SEMI HB6 - 光学プローブを使用した結晶質サファイアウェーハの厚さと形状の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF176300 - SEMI MF1763 - 直線偏光子のコントラストを測定するための試験方法
SEMI MF1763 - 直線偏光子のコントラストを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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F06900 - SEMI F69 - ガス供給システムの輸送および衝撃試験の試験方法
SEMI F69 - ガス供給システムの輸送および衝撃試験の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF015400 - SEMI MF154 - シリコンの鏡面表面に見られる構造および汚染物質の特定に関するガイド
SEMI MF154 - シリコンの鏡面表面に見られる構造および汚染物質の特定に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
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G06800 - SEMI G68 - 半導体パッケージの空気環境におけるジャンクション-ケース間熱抵抗測定の試験方法
SEMI G68 - 半導体パッケージの空気環境におけるジャンクション-ケース間熱抵抗測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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M07300 - SEMI M73 - 測定されたウェーハエッジプロファイルから関連特性を抽出するための試験方法
SEMI M73 - 測定されたウェーハエッジプロファイルから関連特性を抽出するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF104800 - SEMI MF1048 - 反射全積分散乱を測定するための試験方法MF104800 - SEMI MF1048 - 反射全積分散乱を測定するための試験方法
SEMI MF1048 - 反射全積分散乱を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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MF172700 - SEMI MF1727 - 研磨シリコンウェーハの酸化誘発欠陥の検出の実践
SEMI MF1727 - 研磨シリコンウェーハの酸化誘発欠陥の検出の実践 セール価格Member Price: ¥113
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MF152700 - SEMI MF1527 - シリコンの抵抗率を測定する機器の校正および制御のための認定標準物質および基準ウェーハの適用に関するガイド
SEMI MF1527 - シリコンの抵抗率を測定する機器の校正および制御のための認定標準物質および基準ウェーハの適用に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
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MF153500 - SEMI MF1535 - マイクロ波反射率による光導電率減衰の非接触測定による電子グレードのシリコンウェーハのキャリア再結合寿命の試験方法
SEMI MF1535 - マイクロ波反射率による光導電率減衰の非接触測定による電子グレードのシリコンウェーハのキャリア再結合寿命の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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F03400 - SEMI F34 - 液体化学パイプのラベル貼付ガイド
SEMI F34 - 液体化学パイプのラベル貼付ガイド セール価格Member Price: ¥113
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M04200 - SEMI M42 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M42 - 化合物半導体エピタキシャルウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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MF008400 - SEMI MF84 - インライン 4 点プローブを使用してシリコン ウェーハの抵抗率を測定するテスト方法
SEMI MF84 - インライン 4 点プローブを使用してシリコン ウェーハの抵抗率を測定するテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
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M01200 - SEMI M12 - ウェーハ前面のシリアル英数字マーキングの仕様
SEMI M12 - ウェーハ前面のシリアル英数字マーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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G01100 - SEMI G11 - 熱硬化性成形コンパウンドの RAM フォロワーゲルタイムとスパイラルフローの実践
SEMI G11 - 熱硬化性成形コンパウンドの RAM フォロワーゲルタイムとスパイラルフローの実践 セール価格Member Price: ¥113
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F05100 - SEMI F51 - エラストメトリック シーリング技術のガイド
SEMI F51 - エラストメトリック シーリング技術のガイド セール価格Member Price: ¥113
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M08800 - SEMI M88 - 表面光起電力法によるシリコンウェーハ内の少数キャリア拡散長を測定するためのサンプル調製方法の実践
SEMI M88 - 表面光起電力法によるシリコンウェーハ内の少数キャリア拡散長を測定するためのサンプル調製方法の実践 セール価格Member Price: ¥113
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M03100 - SEMI M31 - 300 mm ウェーハの輸送および出荷に使用される前開き輸送ボックスの機械的特徴の仕様
SEMI M31 - 300 mm ウェーハの輸送および出荷に使用される前開き輸送ボックスの機械的特徴の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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F04500 - SEMI F45 - 機械加工されたステンレス鋼の還元溶接継手の仕様
SEMI F45 - 機械加工されたステンレス鋼の還元溶接継手の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
M06100 - SEMI M61 - 埋め込み層付きシリコンエピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M61 - 埋め込み層付きシリコンエピタキシャルウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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M04000 - SEMI M40 - 研磨ウェーハの平面粗さ測定用ガイド
SEMI M40 - 研磨ウェーハの平面粗さ測定用ガイド セール価格Member Price: ¥113
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