SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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MF002800 - SEMI MF28 - 光導電率減衰の測定によるバルクゲルマニウムおよびシリコンの少数キャリア寿命の試験方法
SEMI MF28 - 光導電率減衰の測定によるバルクゲルマニウムおよびシリコンの少数キャリア寿命の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G01000 - SEMI G10 - プラスチックパッケージリードフレームの機械的標準測定方法
SEMI G10 - プラスチックパッケージリードフレームの機械的標準測定方法 セール価格Member Price: ¥135
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M05000 - SEMI M50 - オーバーレイ法による表面走査検査システムの捕捉率および誤計数率を決定するための試験方法
SEMI M50 - オーバーレイ法による表面走査検査システムの捕捉率および誤計数率を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G03100 - SEMI G31 - 成形材料の研磨特性を決定するための試験方法
SEMI G31 - 成形材料の研磨特性を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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E01000 - SEMI E10 - 機器の信頼性、可用性、保守性（RAM）および使用率の定義と測定に関する仕様
SEMI E10 - 機器の信頼性、可用性、保守性（RAM）および使用率の定義と測定に関する仕様 セール価格Member Price: ¥225
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E03700 - SEMI E37 - 高速 SECS メッセージ サービス (HSMS) 汎用サービスの仕様
SEMI E37 - 高速 SECS メッセージ サービス (HSMS) 汎用サービスの仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
E04000 - SEMI E40 - 処理管理の仕様
SEMI E40 - 処理管理の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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E00400 - SEMI E4 - SEMI 機器通信規格 1 メッセージ転送仕様 (SECS-I)
SEMI E4 - SEMI 機器通信規格 1 メッセージ転送仕様 (SECS-I) セール価格Member Price: ¥113
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G09700 - SEMI G97 - 薄いチップの処理に使用される粘着トレイの仕様
SEMI G97 - 薄いチップの処理に使用される粘着トレイの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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E03900 - SEMI E39 - オブジェクト サービスの仕様: 概念、動作、およびサービス
SEMI E39 - オブジェクト サービスの仕様: 概念、動作、およびサービス セール価格Member Price: ¥113
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F10500 - SEMI F105 - ガス供給システムにおける金属材料の適合性に関するガイド
SEMI F105 - ガス供給システムにおける金属材料の適合性に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF136600 - SEMI MF1366 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープシリコン基板の酸素濃度測定の試験方法
SEMI MF1366 - 二次イオン質量分析による高濃度ドープシリコン基板の酸素濃度測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M07000 - SEMI M70 - 部分的なウェーハサイトの平坦度を使用してウェーハのニアエッジ形状を決定するための試験方法
SEMI M70 - 部分的なウェーハサイトの平坦度を使用してウェーハのニアエッジ形状を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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E00500 - SEMI E5 - 半導体製造装置通信標準2 メッセージ内容（SECS-II）
SEMI E5 - 半導体製造装置通信標準2 メッセージ内容（SECS-II） セール価格Member Price: ¥135
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E13200 - SEMI E132 - 機器クライアントの認証および認可の仕様
SEMI E132 - 機器クライアントの認証および認可の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
E11600 - SEMI E116 - 機器性能追跡の仕様
SEMI E116 - 機器性能追跡の仕様 セール価格Member Price: ¥225
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E09000 - SEMI E90 - 基板トラッキングの仕様
SEMI E90 - 基板トラッキングの仕様 セール価格 Member Price : ¥113
ワールドファブフォーキャスト - サブスクリプション
ワールドファブフォーキャスト サブスクリプション セール価格Member Price: ¥6,300
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MF115300 - SEMI MF1153 - 容量電圧測定による金属酸化シリコン (MOS) 構造の特性評価のための試験方法
SEMI MF1153 - 容量電圧測定による金属酸化シリコン (MOS) 構造の特性評価のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G02000 - SEMI G20 - プラスチックパッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブデバイスのみ)
SEMI G20 - プラスチックパッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブデバイスのみ) セール価格Member Price: ¥113
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E15300 - SEMI E153 - AMHS SEM の仕様 (AMHS SEM)
SEMI E153 - AMHS SEM の仕様 (AMHS SEM) セール価格Member Price: ¥113
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F03800 - SEMI F38 - ポイントオブユースガスフィルターの効率認定のための試験方法
SEMI F38 - ポイントオブユースガスフィルターの効率認定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G01500 - SEMI G15 - 成形材料の示差走査熱量測定の標準試験方法
SEMI G15 - 成形材料の示差走査熱量測定の標準試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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E15700 - SEMI E157 - モジュールプロセス追跡の仕様E15700 - SEMI E157 - モジュールプロセス追跡の仕様
SEMI E157 - モジュールプロセス追跡の仕様 セール価格 Member Price : ¥113