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E14800 - SEMI E148 - 時刻同期の仕様と TS-Clock オブジェクトの定義
SEMI E148 - 時刻同期の仕様と TS-Clock オブジェクトの定義 セール価格Member Price: ¥113
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E16400 - SEMI E164 - EDA 共通メタデータの仕様
SEMI E164 - EDA 共通メタデータの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D05400 - SEMI D54 - FPD 製造の基板管理仕様 (SMS-FPD)
SEMI D54 - FPD 製造の基板管理仕様 (SMS-FPD) セール価格Member Price: ¥113
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C06900 - SEMI C69 - ポリマーペレットの表面積を測定するための試験方法
SEMI C69 - ポリマーペレットの表面積を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C05600 - SEMI C56 - ジクロロシランの仕様
SEMI C56 - ジクロロシランの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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D05200 - SEMI D52 - 基板IDの基準位置に関する仕様
SEMI D52 - 基板IDの基準位置に関する仕様 セール価格Member Price: ¥135
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3D01700 - SEMI 3D17 - 接合ウェーハスタックボイド計測用標準物質の仕様
SEMI 3D17 - 接合ウェーハスタックボイド計測用標準物質の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F04700 - SEMI F47 - 半導体処理装置の電圧低下耐性の仕様
SEMI F47 - 半導体処理装置の電圧低下耐性の仕様 セール価格Member Price: ¥225
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C05900 - SEMI C59 - 窒素の仕様
SEMI C59 - 窒素の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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E12100 - SEMI E121 - 半導体製造アプリケーションのための XML のスタイルと使用法に関するガイド
SEMI E121 - 半導体製造アプリケーションのための XML のスタイルと使用法に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
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D07700 - SEMI D77 - FPD用フィルムの寸法測定の試験方法 – 輪郭マッチング法
SEMI D77 - FPD用フィルムの寸法測定の試験方法 – 輪郭マッチング法 セール価格Member Price: ¥113
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E15200 - SEMI E152 - 150 mm EUVL レチクル用 EUV ポッドの機械的特徴の仕様
SEMI E152 - 150 mm EUVL レチクル用 EUV ポッドの機械的特徴の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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C02400 - SEMI C24 - 酢酸n-ブチルの仕様
SEMI C24 - 酢酸n-ブチルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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C07700 - SEMI C77 - 検出可能な最小粒子サイズが 30 nm ～ 100 nm である液体媒介粒子計数器の計数効率を決定するための試験方法
SEMI C77 - 検出可能な最小粒子サイズが 30 nm ～ 100 nm である液体媒介粒子計数器の計数効率を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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F04800 - SEMI F48 - ポリマー材料中の微量金属を測定するための試験方法
SEMI F48 - ポリマー材料中の微量金属を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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C08100 - SEMI C81 - トリス(ジメチルアミノ) シラン (3DMAS) のガイド
SEMI C81 - トリス(ジメチルアミノ) シラン (3DMAS) のガイド セール価格Member Price: ¥113
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3D01300 - SEMI 3D13 - 接合ウェーハスタックのボイド測定ガイド
SEMI 3D13 - 接合ウェーハスタックのボイド測定ガイド セール価格Member Price: ¥113
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D05300 - SEMI D53 - フラット パネル ディスプレイ (FPD) ペリクルの仕様
SEMI D53 - フラット パネル ディスプレイ (FPD) ペリクルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
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F06200 - SEMI F62 - 周囲温度およびガス温度の影響に対するマスフローコントローラの性能特性を決定するための試験方法
SEMI F62 - 周囲温度およびガス温度の影響に対するマスフローコントローラの性能特性を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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E02900 - SEMI E29 - マスフローコントローラーおよびマスフローメーターの校正に関する用語
SEMI E29 - マスフローコントローラーおよびマスフローメーターの校正に関する用語 セール価格Member Price: ¥113
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3D01100 - SEMI 3D11 - ガラス幾何計測におけるスルー ガラス ビアおよびブラインド ビアの用語
SEMI 3D11 - ガラス幾何計測におけるスルー ガラス ビアおよびブラインド ビアの用語 セール価格Member Price: ¥113
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D02300 - SEMI D23 - FPD 機器の機器所有コスト (CEO) 計算ガイド
SEMI D23 - FPD 機器の機器所有コスト (CEO) 計算ガイド セール価格Member Price: ¥113
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C08600 - SEMI C86 - エチレングリコールのガイド
SEMI C86 - エチレングリコールのガイド セール価格Member Price: ¥113
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C08000 - SEMI C80 - テトラキス(ジメチルアミノ) シラン (TDMAS) のガイド
SEMI C80 - テトラキス(ジメチルアミノ) シラン (TDMAS) のガイド セール価格Member Price: ¥113
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