SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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C10400 - SEMI C104 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) パッドのポリマー ウィンドウの性能パラメータを報告するためのガイド
SEMI C104 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) パッドのポリマー ウィンドウの性能パラメータを報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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F07700 - SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学の臨界孔食温度の試験方法
SEMI F77 - 腐食性のガスシステムに使用される合金表面の電気化学の臨界孔食温度の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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P00300 - SEMI P3 - 硬質表面フォトプレート用フォトレジスト/電子ビームレジストの仕様
SEMI P3 - 硬質表面フォトプレート用フォトレジスト/電子ビームレジストの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P02000 - SEMI P20 - EBレジストパラメーターのカタログ公開のガイドライン（提案）
SEMI P20 - EBレジストパラメーターのカタログ公開のガイドライン（提案） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G04400 - SEMI G44 - ガラス・メタル・シール・セラミック・パッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブ・デバイスのみ)
SEMI G44 - ガラス・メタル・シール・セラミック・パッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブ・デバイスのみ) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01100 - SEMI P11 - アルカリ揮発性溶液に対する全規定度の測定のテスト方法
SEMI P11 - アルカリ揮発性溶液に対する全規定度の測定のテスト方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07600 - SEMI M76 - 開発中の直径 450 mm 研磨単結晶シリコン ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発中の直径 450 mm 研磨単結晶シリコン ウェーハの仕様 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様
SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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M03800 - SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05600 - SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに立つ費用成分の作業法
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに立つ費用成分の作業法 セール価格Member Price: ¥135
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P03400 - SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MS00900 - SEMI MS9 - マイクロ流体デバイス間の高密度永久接続の仕様
SEMI MS9 - マイクロ流体デバイス間の高密度永久接続の仕様 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
G03300 - SEMI G33 - プレスセラミックピングリッドアレイパッケージの仕様
SEMI G33 - プレスセラミックピングリッドアレイパッケージの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハ刃エッジから直接的関連性のある特性を抽出するテスト方法
SEMI M73 - 測定したウェーハ刃エッジから直接的関連性のある特性を抽出するテスト方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01500 - SEMI M15 - 半絶縁ガリウムヒ素ウェーハの研磨ウェーハ欠陥限界表
SEMI M15 - 半絶縁ガリウムヒ素ウェーハの研磨ウェーハ欠陥限界表 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00357 - SEMI C3.57 - 内部電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様
SEMI C3.57 - 内部電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M04900 - SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド
SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G06800 - SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージの中継部とケース間の熱抵抗測定の試験方法
SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージの中継部とケース間の熱抵抗測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G00800 - SEMI G8 - 金めっきの試験方法
SEMI G8 - 金めっきの試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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M01200 - SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様
SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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F06200 - SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコール性能特性を決定する試験方法
SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコール性能特性を決定する試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
D02200 - SEMI D22 - 平面表示螢幕(FPD)彩色光濾片總成顏色透光度計算之測法
SEMI D22 - 平面表示螢幕(FPD)彩色光濾片總成顏色透光度計算之測法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900