SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン
SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン セール価格Member Price: ¥135
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M05000 - SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法
SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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M00900 - SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様
SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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G09400 - SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム 出荷容器の仕様
SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム 出荷容器の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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P02600 - SEMI P26 - フォトレジストの感情測定用パラメーターチェックリスト
SEMI P26 - フォトレジストの感情測定用パラメーターチェックリスト セール価格Member Price: ¥135
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M05200 - SEMI M52 - 130 nm、90nm、65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド
SEMI M52 - 130 nm、90nm、65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
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F01500 - SEMI F15 - パソコンの試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行
SEMI F15 - パソコンの試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行 セール価格Member Price: ¥135
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M02400 - SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様
SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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P00900 - SEMI P9 - マイクロエレクトロニクス用レジスト的な機能テスト（ガイドライン）
SEMI P9 - マイクロエレクトロニクス用レジスト的な機能テスト（ガイドライン） セール価格Member Price: ¥135
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G08000 - SEMI G80 - 自動テスト装置の全体的なデジタル タイミング精度を分析するためのテスト方法
SEMI G80 - 自動テスト装置の全体的なデジタル タイミング精度を分析するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
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F09800 - SEMI F98 - 半導体プロセスにおける用水再処理のためのガイド
SEMI F98 - 半導体プロセスにおける用水再処理のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
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M04500 - SEMI M45 - 300 mmウェーハシッピングシステムに関する暫定仕様
SEMI M45 - 300 mmウェーハシッピングシステムに関する暫定仕様 セール価格Member Price: ¥135
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P02300 - SEMI P23 - プログラムされた欠陥マスクのガイドラインとマスク欠陥検査システムの感度分析のベンチマーク手順
SEMI P23 - プログラムされた欠陥マスクのガイドラインとマスク欠陥検査システムの感度分析のベンチマーク手順 セール価格Member Price: ¥113
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P04100 - SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様
SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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M03400 - SEMI M34 - SIMOXウェーハを規定するための指針
SEMI M34 - SIMOXウェーハを規定するための指針 セール価格Member Price: ¥135
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C03800 - SEMI C38 - オキシ塩化リンに関するガイドライン
SEMI C38 - オキシ塩化リンに関するガイドライン セール価格Member Price: ¥113
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M04800 - SEMI M48 - パターン化されていないシリコン基板上の膜の化学機械研磨プロセスを評価するためのガイド
SEMI M48 - パターン化されていないシリコン基板上の膜の化学機械研磨プロセスを評価するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
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G03200 - SEMI G32 - カプセルなし熱抵抗測定用チップのガイドライン
SEMI G32 - カプセルなし熱抵抗測定用チップのガイドライン セール価格Member Price: ¥135
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E17900 - SEMI E179 - プロトコルバッファの共通コンポーネントの仕様
SEMI E179 - プロトコルバッファの共通コンポーネントの仕様 セール価格 Member Price : ¥113
M08900 - SEMI M89 - 短波長励起マイクロ波光導電減衰法によるシリコンエピタキシャルウェーハ（p/p+、n/n+）のエピ層の再結合寿命の試験方法
SEMI M89 - 短波長励起マイクロ波光導電減衰法によるシリコンエピタキシャルウェーハ（p/p+、n/n+）のエピ層の再結合寿命の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G00600 - SEMI G6 - シールリングの平坦度の試験方法
SEMI G6 - シールリングの平坦度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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PV09200 - SEMI PV92 - フレキシブル薄膜太陽光発電 (PV) モジュールの延長試験方法
SEMI PV92 - フレキシブル薄膜太陽光発電 (PV) モジュールの延長試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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E04400 - SEMI E44 - 小型環境の調達および受け入れに関するガイド
SEMI E44 - 小型環境の調達および受け入れに関するガイド セール価格Member Price: ¥113
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M00800 - SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様
SEMI M8 - 鏡面単結晶シリコンテストウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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