SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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M01500 - SEMI M15 - 半絶縁リウムヒ素ウェーハ用の鏡面ウェーハの屋外表面欠陥表
SEMI M15 - 半絶縁リウムヒ素ウェーハ用の鏡面ウェーハの屋外表面欠陥表 セール価格Member Price: ¥135
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C00100 - SEMI C1 - 液体化学薬品の分析のためのガイド
SEMI C1 - 液体化学薬品の分析のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
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D00900 - SEMI D9 - FPD基板の用語
SEMI D9 - FPD基板の用語 セール価格Member Price: ¥135
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M08100 - SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド
SEMI M81 - 単結晶シリコンカーバイド基板に存在する欠陥についてのガイド セール価格Member Price: ¥135
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C03000 - SEMI C30 - 過酸化水素の仕様
SEMI C30 - 過酸化水素の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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3D02000 - SEMI 3D20 - パネル レベル パッケージング (PLP) アプリケーションのパネル特性の仕様
SEMI 3D20 - パネル レベル パッケージング (PLP) アプリケーションのパネル特性の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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P02500 - SEMI P25 - 焦点深度とベストフォーカスの測定仕様
SEMI P25 - 焦点深度とベストフォーカスの測定仕様 セール価格Member Price: ¥113
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F10100 - SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決めるための試験方法
SEMI F101 - ガス分配システムの圧力レギュレータの性能を決めるための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）における鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、およびニッケルの測定
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）における鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、およびニッケルの測定 セール価格Member Price: ¥135
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G05800 - SEMI G58 - Cerquad パッケージ構造の仕様
SEMI G58 - Cerquad パッケージ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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C0700 - SEMI C70 - 六フッ化タングステン（WF6）の仕様
SEMI C70 - 六フッ化タングステン（WF6）の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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F07100 - SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法
SEMI F71 - ガス供給システムの温度サイクル試験方法 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥38,100 JPY
F02300 - SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F23 - グレード10/0.2　引火性特殊ガスの粒子に関する仕様 セール価格Member Price: ¥135
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P01300 - SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定
SEMI P13 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト中のナトリウムとカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥113
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G03200 - SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン
SEMI G32 - カプセル化されていない熱試験チップのガイドライン セール価格Member Price: ¥113
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P02400 - SEMI P24 - CD 計測手順
SEMI P24 - CD 計測手順 セール価格Member Price: ¥113
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P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法（ICP）によるポジティブ・フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、及びニッケルの測定 セール価格Member Price: ¥135
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P02100 - SEMI P21 - マスク描画装置の精度表示のガイドライン
SEMI P21 - マスク描画装置の精度表示のガイドライン セール価格Member Price: ¥135
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G08900 - SEMI G89 - リードフレームのストリップ寸法の規格
SEMI G89 - リードフレームのストリップ寸法の規格 セール価格Member Price: ¥135
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M03200 - SEMI M32 - 統計仕様ガイド
SEMI M32 - 統計仕様ガイド セール価格Member Price: ¥113
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MF172400 - SEMI MF1724 - 酸抽出原子吸光分光法による多結晶シリコンの表面金属汚染を測定するための試験方法
SEMI MF1724 - 酸抽出原子吸光分光法による多結晶シリコンの表面金属汚染を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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M00100 - SEMI M1 - 鏡面単結晶シリコンウェーハの仕様
SEMI M1 - 鏡面単結晶シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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D07900 - SEMI D79 - フレキシブル ディスプレイの局所的および全体的なちらつきのテスト方法
SEMI D79 - フレキシブル ディスプレイの局所的および全体的なちらつきのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
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C00358 - SEMI C3.58 - 八フッ化シクロブタン（C4F8）、電子グレード、メモリー充填、品質99.999%の仕様
SEMI C3.58 - 八フッ化シクロブタン（C4F8）、電子グレード、メモリー充填、品質99.999%の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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