SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

フィルター

並び替え:

1910 製品

M00300 - SEMI M3 - 研磨単結晶サファイア基板の仕様
SEMI M3 - 研磨単結晶サファイア基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M00400 - SEMI M4 - SOS エピタキシャルウェーハの仕様
SEMI M4 - SOS エピタキシャルウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F01700 - SEMI F17 - 高純度高品質電解研磨 316L ステンレス鋼チューブ、コンポーネントチューブスタブ、およびチューブ製継手の仕様
SEMI F17 - 高純度高品質電解研磨 316L ステンレス鋼チューブ、コンポーネントチューブスタブ、およびチューブ製継手の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C04100 - SEMI C41 - 2-プロパノールの仕様とガイドライン
SEMI C41 - 2-プロパノールの仕様とガイドライン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G04800 - SEMI G48 - 成形プラスチックパッケージツーリングの測定方法の仕様
SEMI G48 - 成形プラスチックパッケージツーリングの測定方法の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
PV02200 - SEMI PV22 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様
SEMI PV22 - 太陽光電池用シリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01300 - SEMI M13 - シリコンウェーハの英数字マーキングの仕様
SEMI M13 - シリコンウェーハの英数字マーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F03000 - SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの起動および検証
SEMI F30 - 据付現場における微量ガス不純物およびパーティクルに関する精製器性能テストの起動および検証 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F01500 - SEMI F15 - 六フッ化硫黄トレーサーガスおよびガスクロマトグラフィーを使用したエンクロージャの試験方法
SEMI F15 - 六フッ化硫黄トレーサーガスおよびガスクロマトグラフィーを使用したエンクロージャの試験方法 セール価格 Member Price : ¥113
F03400 - SEMI F34 - 液体化学薬品配管ラベリングに関するガイド
SEMI F34 - 液体化学薬品配管ラベリングに関するガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
T01400 - SEMI T14 - 300 mm シリコン ウェーハ上のマイクロ ID の仕様
SEMI T14 - 300 mm シリコン ウェーハ上のマイクロ ID の仕様 セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
P02900 - SEMI P29 - 減衰型位相シフトマスク（ハーフトーン型位相シフトマスク）およびマスクブランクスに特有な特性の仕様
SEMI P29 - 減衰型位相シフトマスク（ハーフトーン型位相シフトマスク）およびマスクブランクスに特有な特性の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C10000 - SEMI C100 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの硬度を報告するためのガイド
SEMI C100 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) 研磨パッドの硬度を報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01500 - SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のナトリウムとカリウムの定量
SEMI P15 - 原子吸光分光法によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中のナトリウムとカリウムの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03400 - SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230 mm角フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00200 - SEMI P2 - 硬質表面フォトマスク用クロム薄膜の仕様
SEMI P2 - 硬質表面フォトマスク用クロム薄膜の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C10100 - SEMI C101 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の pH を測定するための試験方法
SEMI C101 - 化学機械平坦化 (CMP) スラリーおよび関連化学薬品の pH を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01200 - SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量
SEMI P12 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01500 - SEMI P15 - 原子光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）漸減液中の吸湿とカリウムの測定
SEMI P15 - 原子光分光法によるポジティブフォトレジスト・金属イオンフリー（MIF）漸減液中の吸湿とカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04200 - SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウエハ露光システムへの自動レシピ転送のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C00347 - SEMI C3.47 - 臭化水素（HBr）、品質99.98%の仕様
SEMI C3.47 - 臭化水素（HBr）、品質99.98%の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08100 - SEMI G81 - マップデータ・アイテムの仕様
SEMI G81 - マップデータ・アイテムの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法
SEMI M36 - 低転位密度GaAs基板のエッチピット密度（EPD）の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08800 - SEMI G88 - 450mmウェーハ用テープフレームの仕様
SEMI G88 - 450mmウェーハ用テープフレームの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100