SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

フィルター

並び替え:

1910 製品

G02600 - SEMI G26 - 密閉型スラムチップキャリア蓋の仕様
SEMI G26 - 密閉型スラムチップキャリア蓋の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥24,800
G08500 - SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様
SEMI G85 - マップデータ・フォーマット用仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03000 - SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領
SEMI P30 - 寸法測定用走査型電子顕微鏡（CD-SEM）の目録発行の実施要領 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
D03100 - SEMI D31 - FPD検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義
SEMI D31 - FPD検査における輝度ムラの計量単位（DSEMU）の定義 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03200 - SEMI M32 - 統計的仕様のガイド
SEMI M32 - 統計的仕様のガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03700 - SEMI M37 - 低転位密度リン化インジウムウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法
SEMI M37 - 低転位密度リン化インジウムウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
PV03500 - SEMI PV35 - 太陽光発電製造システム用機器間の水平通信仕様
SEMI PV35 - 太陽光発電製造システム用機器間の水平通信仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01000 - SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様
SEMI P10 - フォトマスクオーダーのデータ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02900 - SEMI M29 - 300 mm 配送ボックスの仕様
SEMI M29 - 300 mm 配送ボックスの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
MF053400 - SEMI MF534 - シリコンウェーハの反りの試験方法
SEMI MF534 - シリコンウェーハの反りの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D01700 - SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様
SEMI D17 - FPDガラス基板搬送用カセットの機械的仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
MF039900 - SEMI MF399 - ヘテロエピタキシャル層またはポリシリコン層の厚さの試験方法
SEMI MF399 - ヘテロエピタキシャル層またはポリシリコン層の厚さの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G00500 - SEMI G5 - 仕様セラミックチップキャリア（CCC）
SEMI G5 - 仕様セラミックチップキャリア（CCC） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥31,900
M03300 - SEMI M33 - 全反射蛍光 X 線分光法 (TXRF) によるシリコンウェーハ上の残留表面汚染の測定のための試験方法
SEMI M33 - 全反射蛍光 X 線分光法 (TXRF) によるシリコンウェーハ上の残留表面汚染の測定のための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03700 - SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様
SEMI P37 - 極端紫外リソグラフィー基板およびブランクの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C10300 - SEMI C103 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) コンディショニング ディスクの性能パラメータを報告するためのガイド
SEMI C103 - 半導体製造で使用される化学機械平坦化 (CMP) コンディショニング ディスクの性能パラメータを報告するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
Flex Electronics ウェビナー マスター クラス: 2021 年 5 月 (オンデマンド)
Flex Electronics ウェビナー マスター クラス: 2021 年 5 月 (オンデマンド) セール価格Member Price: ¥49
Non-Member Price: ¥16,400
G06700 - SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法
SEMI G67 - シート材料から発生する粒子の測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00600 - SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク
SEMI P6 - フォトマスク用レジストレーションマーク セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01700 - SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量
SEMI P17 - 誘導結合プラズマ発光分光法 (ICP) によるポジ型フォトレジスト金属イオンフリー (MIF) 現像液中の鉄、亜鉛、カルシウム、マグネシウム、銅、ホウ素、アルミニウム、クロム、マンガン、ニッケルの定量 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P00600 - SEMI P6 - フォトマスクのレジストレーションマークの仕様
SEMI P6 - フォトマスクのレジストレーションマークの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P04200 - SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様
SEMI P42 - ウェーハ露光システムへの自動レシピ配信のためのレチクルデータの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03900 - SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法
SEMI M39 - 半絶縁GaAs単結晶の抵抗率及びホール係数を測定しホール移動度を決定する方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03000 - SEMI M30 - フーリエ変換赤外吸収分光法による GaAs の置換原子炭素濃度の標準試験法
SEMI M30 - フーリエ変換赤外吸収分光法による GaAs の置換原子炭素濃度の標準試験法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900