SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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F02100 - SEMI F21 - きれいな環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類
SEMI F21 - きれいな環境における空気を媒体とする分子汚染レベルの分類 セール価格Member Price: ¥135
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D03800 - SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド
SEMI D38 - LCD用マスクの有効範囲のガイド セール価格Member Price: ¥135
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M01400 - SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様）
SEMI M14 - 半絶縁ガリウムヒ素単結晶のためのイオン注入及び活性化プロセス（仕様） セール価格Member Price: ¥135
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G05600 - SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法
SEMI G56 - リードフレーム銀めっき厚さの測定方法 セール価格Member Price: ¥135
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C00340 - SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4）、99.997%品質の仕様
SEMI C3.40 - 四フッ化炭素（CF4）、99.997%品質の仕様 セール価格Member Price: ¥135
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G00800 - SEMI G8 - 金めっきの試験方法
SEMI G8 - 金めっきの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G08500 - SEMI G85 - 地図データ形式の仕様
SEMI G85 - 地図データ形式の仕様 セール価格Member Price: ¥113
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P01100 - SEMI P11 - アルカリ現像液の完全な正規性を判定するための試験方法
SEMI P11 - アルカリ現像液の完全な正規性を判定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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G05900 - SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染の測定方法
SEMI G59 - リードフレーム挿間紙上のイオン汚染物および挿間紙からリードフレームに移る汚染の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
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M05500 - SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様
SEMI M55 - 鏡面単結晶シリコンカーバイドウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
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G04600 - SEMI G46 - 集積回路のダイアタッチ評価のための過渡熱試験の試験方法
SEMI G46 - 集積回路のダイアタッチ評価のための過渡熱試験の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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P04700 - SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法
SEMI P47 - ラインエッジラフネス（Line Edge Roughness）およびライン幅ラフネス（Line Width Roughness）測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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PV09400 - SEMI PV94 - エレクトロルミネッセンス (EL) イメージングによる結晶シリコン太陽電池 (PV) モジュールのセル欠陥の特定に関するガイド
SEMI PV94 - エレクトロルミネッセンス (EL) イメージングによる結晶シリコン太陽電池 (PV) モジュールのセル欠陥の特定に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
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F02600 - SEMI F26 - グレード10/0.2 安全特殊ガスの粒子に関する仕様
SEMI F26 - グレード10/0.2 安全特殊ガスの粒子に関する仕様 セール価格Member Price: ¥135
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G06000 - SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法
SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法 セール価格Member Price: ¥135
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MF039800 - SEMI MF398 - プラズマ共鳴最小値の波数または波長の測定による半導体内の多数キャリア濃度の試験方法
SEMI MF398 - プラズマ共鳴最小値の波数または波長の測定による半導体内の多数キャリア濃度の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
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P02700 - SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメーターチェックリスト
SEMI P27 - 基板上のレジスト膜厚の測定用パラメーターチェックリスト セール価格Member Price: ¥135
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P02100 - SEMI P21 - マスク描画装置の精度および精度表現に関するガイドライン
SEMI P21 - マスク描画装置の精度および精度表現に関するガイドライン セール価格Member Price: ¥113
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M07600 - SEMI M76 - 開発用直径450 mm シリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発用直径450 mm シリコン単結晶鏡面ウェーハの仕様 通常価格¥59,400 JPY セール価格¥38,100 JPY
G01800 - SEMI G18 - エッチングリードフレームの製造に使用するコンデンサ回路用リードフレーム材料のための基準
SEMI G18 - エッチングリードフレームの製造に使用するコンデンサ回路用リードフレーム材料のための基準 セール価格Member Price: ¥135
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P01300 - SEMI P13 - 吸原子光分光法によるポジティブフォトレジスト中における最大とカリウムの測定
SEMI P13 - 吸原子光分光法によるポジティブフォトレジスト中における最大とカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥135
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G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法
SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
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D06300 - SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法
SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03400 - SEMI M34 - SIMOX ウェーハ指定ガイド
SEMI M34 - SIMOX ウェーハ指定ガイド セール価格Member Price: ¥113
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