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SEMI G60 - 半導体リードフレーム挿間紙材料の静電特性の測定方法 -
Volume(s):
Packaging
Language:
Japanese
Type: Single Standards Download (.pdf)
Abstract
本基準は、グローバルAssembly & Packaging Technical Committee で技術的に承認されています。現版は2011年7月1日、global Audits and Reviews Subcommittee にて発行が承認されました。 .orgおよびwww.semi.orgで入手可能となる。初版は1994年発行。前版は2002年3月発行。
注意: この文書は、編集上の修正を考慮して再承認されました。
この試験方法は，誘起される電寸と極性および完全な電荷が散逸されるのに時間の測定によって，フィルムおよびシート内の挿間紙材料の静電特性を測定するための手順についてものである。
参照されるSEMI規格なし。
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