
SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法 -
Abstract
本基準は、グローバルAssembly & Packaging Technical Committee で技術的に承認されています。現版は2011年7 月1日、global Audits and Reviews Subcommittee にて発行が承認されました。 .orgおよびwww.semi.orgで入手可能となる。初版は1996年発行。前版は2004年11月発行。
注意: この文書は、編集上の修正を考慮して再承認されました。
この文書は、半導体パッケージのリードフレームとモールディングコンパウンドの間のその後の強度を測定する手順について記載されています。
この手順には、せん断試験、引張り試験、三点曲げ技術が含まれる。
参照されるSEMI規格なし。
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G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法
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