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SEMI PV94 - エレクトロルミネッセンス (EL) イメージングによる結晶シリコン太陽電池 (PV) モジュールのセル欠陥の特定に関するガイド -
Volume(s):
Photovoltaic
Language:
English
Type: Single Standards Download (.pdf)
Abstract
製造のいくつかの時点で、 設置プロセスの太陽光発電 (PV) モジュールは、次の点についてテストする必要があります。 そのパフォーマンスと潜在的な欠陥。
このようなテストは、次の期間に実行する必要がある場合があります。 モジュールのライフサイクル。
モジュールまたはその個々のセルをテストする エレクトロルミネッセンス (EL) イメージングは細胞を検出するためのよく知られた方法です 欠陥。
ELイメージングで得られる画像の品質 は、この方法を適切に適用するかどうかに大きく依存します。
したがって、このガイドでは、ユーザーに次の方法を提供します。 結晶シリコンのELイメージングを適切に応用する 太陽光発電モジュール。
検査に関する指導も行っています。 ELイメージングを使用した結晶シリコンPVモジュールのセル欠陥に関する研究 欠陥の分類にも役立ちます。
このガイドは、以下の検査に関するガイダンスを提供します。 ELイメージングを使用した結晶シリコンPVモジュールのセル欠陥に関する研究。
このガイドでは、最も一般的なセルも分類しています。 欠陥。
セルの欠陥を特定するのに適しています。 結晶シリコン PV モジュールを屋内に設置。
参照されるSEMI規格
SEMI E89 — 測定システム分析 (MSA) のガイド
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