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MS00900 - SEMI MS9 - マイクロ流体デバイス間の高密度永久接続の仕様
SEMI MS9 - マイクロ流体デバイス間の高密度永久接続の仕様 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
M05000 - SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法
SEMI M50 - オーバーレイ法による走査型表面検査システム用捕獲率および偽計数率を決定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04600 - SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様
SEMI P46 - XMLによるフォトマスク上の限界寸法（CD）測定情報データの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G06800 - SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージの中継部とケース間の熱抵抗測定の試験方法
SEMI G68 - 空気環境における半導体パッケージの中継部とケース間の熱抵抗測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
F06200 - SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコール性能特性を決定する試験方法
SEMI F62 - 周囲およびガス温度の影響からマスフローコール性能特性を決定する試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07900 - SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様
SEMI M79 - 太陽電池用円盤状100mm鏡面研磨単結晶ゲルマニウムウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07500 - SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウム アンチモンスライスの仕様
SEMI M75 - 鏡面単結晶ガリウム アンチモンスライスの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01500 - SEMI M15 - 半絶縁ガリウムヒ素ウェーハの研磨ウェーハ欠陥限界表
SEMI M15 - 半絶縁ガリウムヒ素ウェーハの研磨ウェーハ欠陥限界表 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G09400 - SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム 出荷容器の仕様
SEMI G94 - 300mmウェーハ用コインスタック型テープフレーム 出荷容器の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05700 - SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様
SEMI M57 - シリコンアニールウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M04900 - SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド
SEMI M49 - 130 nmから65 nmへの技術世代のシリコンウェーハ用ジオメトリ測定システム規定のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02300 - SEMI P23 - プログラムされた欠陥マスクのガイドラインとマスク欠陥検査システムの感度分析のベンチマーク手順
SEMI P23 - プログラムされた欠陥マスクのガイドラインとマスク欠陥検査システムの感度分析のベンチマーク手順 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04500 - SEMI M45 - 300 mmウェーハシッピングシステムに関する暫定仕様
SEMI M45 - 300 mmウェーハシッピングシステムに関する暫定仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C07100 - SEMI C71 - 三塩化ホウ素（BCI3）の仕様およびガイド
SEMI C71 - 三塩化ホウ素（BCI3）の仕様およびガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
PV00400 - SEMI PV4 - 薄膜太陽光発電アプリケーション向けの第 5 世代基板サイズの範囲の仕様
SEMI PV4 - 薄膜太陽光発電アプリケーション向けの第 5 世代基板サイズの範囲の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P03200 - SEMI P32 - フォトレジスト中の微量金属を測定するための試験方法
SEMI P32 - フォトレジスト中の微量金属を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
C03800 - SEMI C38 - オキシ塩化リンに関するガイドライン
SEMI C38 - オキシ塩化リンに関するガイドライン セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03600 - SEMI M36 - 低転位密度ガリウムヒ素ウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法
SEMI M36 - 低転位密度ガリウムヒ素ウェーハのエッチピット密度 (EPD) を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M03400 - SEMI M34 - SIMOXウェーハを規定するための指針
SEMI M34 - SIMOXウェーハを規定するための指針 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥29,700
F09800 - SEMI F98 - 半導体プロセスにおける用水再処理のためのガイド
SEMI F98 - 半導体プロセスにおける用水再処理のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P04100 - SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様
SEMI P41 - 欠陥検査ツール、修復ツール、レビューツール間でのXMLによるマスク欠陥データ処理の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G08600 - SEMI G86 - シリコンチップ（ダイ）の三点曲げ試験方法
SEMI G86 - シリコンチップ（ダイ）の三点曲げ試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G08000 - SEMI G80 - 自動テスト装置の全体的なデジタル タイミング精度を分析するためのテスト方法
SEMI G80 - 自動テスト装置の全体的なデジタル タイミング精度を分析するためのテスト方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
M04800 - SEMI M48 - パターン化されていないシリコン基板上の膜の化学機械研磨プロセスを評価するためのガイド
SEMI M48 - パターン化されていないシリコン基板上の膜の化学機械研磨プロセスを評価するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
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