最新の規格

フィルター

並び替え:

1638 製品

P02000 - SEMI P20 - EBレジストパラメーターのカタログ公開のガイドライン（提案）
SEMI P20 - EBレジストパラメーターのカタログ公開のガイドライン（提案） セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P00300 - SEMI P3 - 硬質表面フォトプレート用フォトレジスト/電子ビームレジストの仕様
SEMI P3 - 硬質表面フォトプレート用フォトレジスト/電子ビームレジストの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
G04400 - SEMI G44 - ガラス・メタル・シール・セラミック・パッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブ・デバイスのみ)
SEMI G44 - ガラス・メタル・シール・セラミック・パッケージのリード仕上げの仕様 (アクティブ・デバイスのみ) セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
P01300 - SEMI P13 - 吸原子光分光法によるポジティブフォトレジスト中における最大とカリウムの測定
SEMI P13 - 吸原子光分光法によるポジティブフォトレジスト中における最大とカリウムの測定 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07600 - SEMI M76 - 開発中の直径 450 mm 研磨単結晶シリコン ウェーハの仕様
SEMI M76 - 開発中の直径 450 mm 研磨単結晶シリコン ウェーハの仕様 通常価格¥49,500 JPY セール価格¥31,900 JPY
M05600 - SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに立つ費用成分の作業法
SEMI M56 - 計量装置の測定変動と偏りに立つ費用成分の作業法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P01100 - SEMI P11 - アルカリ揮発性溶液に対する全規定度の測定のテスト方法
SEMI P11 - アルカリ揮発性溶液に対する全規定度の測定のテスト方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
G06900 - SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法
SEMI G69 - リードフレームとモールディングコンパウンド間のその後強度の測定の試験方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03800 - SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様
SEMI M38 - 鏡面リクレイムシリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02300 - SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様
SEMI M23 - 鏡面単結晶インジウムリンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M00900 - SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様
SEMI M9 - 鏡面単結晶ガリウムヒ素スライスの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M02400 - SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様
SEMI M24 - 鏡面単結晶プレミアムシリコンウェーハの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C00357 - SEMI C3.57 - 内部電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様
SEMI C3.57 - 内部電子的グレード二酸化炭素，CO2の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M07300 - SEMI M73 - 測定したウェーハ刃エッジから直接的関連性のある特性を抽出するテスト方法
SEMI M73 - 測定したウェーハ刃エッジから直接的関連性のある特性を抽出するテスト方法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02600 - SEMI P26 - フォトレジストの感情測定用パラメーターチェックリスト
SEMI P26 - フォトレジストの感情測定用パラメーターチェックリスト セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M05200 - SEMI M52 - 130 nm、90nm、65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド
SEMI M52 - 130 nm、90nm、65nmおよび45nm技術世代シリコンウェーハ用走査型表面検査装置仕様のためのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P03400 - SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様
SEMI P34 - 230mm方形フォトマスク基板の仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M03400 - SEMI M34 - SIMOX ウェーハ指定ガイド
SEMI M34 - SIMOX ウェーハ指定ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F01500 - SEMI F15 - パソコンの試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行
SEMI F15 - パソコンの試験方法（六フッ化硫黄のトレーサガス）のSEMI S6への移行 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
M01200 - SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様
SEMI M12 - ウェーハ表面の連続英数字マーキングの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
P02800 - SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン
SEMI P28 - 集積回路製造用オーバーレイ計測テストパターン セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
C04500 - SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様
SEMI C45 - テトラエトキシシラン (TEOS) ガイドラインと仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
D02200 - SEMI D22 - 平面表示螢幕(FPD)彩色光濾片總成顏色透光度計算之測法
SEMI D22 - 平面表示螢幕(FPD)彩色光濾片總成顏色透光度計算之測法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D06300 - SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法
SEMI D63 - FPDカラーフィルターの偏光解消効果測定法 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
View All