SEMI 3D16 - 半導体パッケージ用ガラス基材の仕様

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E05411 - SEMI E54.11 - エンドポイントデバイスのための特定デバイスモデル
SEMI E54.11 - エンドポイントデバイスのための特定デバイスモデル セール価格Member Price: ¥135
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D05500 - SEMI D55 - カラーフィルターアセンブリの色性能の評価方法ガイド（色純度の評価方法）
SEMI D55 - カラーフィルターアセンブリの色性能の評価方法ガイド（色純度の評価方法） セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E16900 - SEMI E169 - 機器情報システムセキュリティガイド
SEMI E169 - 機器情報システムセキュリティガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E02200 - SEMI E22 - クラスタ ツール モジュール インターフェイスの仕様: トランスポート モジュール エンド エフェクタ除外ボリューム
SEMI E22 - クラスタ ツール モジュール インターフェイスの仕様: トランスポート モジュール エンド エフェクタ除外ボリューム セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E04900 - SEMI E49 - 高純度および超高純度の配管性能、サブアセンブリ、および最終アセンブリに関するガイド
SEMI E49 - 高純度および超高純度の配管性能、サブアセンブリ、および最終アセンブリに関するガイド セール価格Member Price: ¥225
Non-Member Price: ¥62,700
F04100 - SEMI F41 - 半導体プロセスで使用されるバルク化学物質分配システムの認定ガイド
SEMI F41 - 半導体プロセスで使用されるバルク化学物質分配システムの認定ガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F07200 - SEMI F72 - 不動態化された 316L ステンレス鋼コンポーネントの接液面の酸化層のオージェ電子分光法 (AES) 評価の試験方法
SEMI F72 - 不動態化された 316L ステンレス鋼コンポーネントの接液面の酸化層のオージェ電子分光法 (AES) 評価の試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D05600 - SEMI D56 - 液晶ディスプレイの周囲コントラストを測定するための試験方法
SEMI D56 - 液晶ディスプレイの周囲コントラストを測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
材料市場データ サブスクリプション (MMDS)
材料市場データ サブスクリプション (MMDS) セール価格Member Price: ¥3,750
Non-Member Price: ¥1,624,500
E13400 - SEMI E134 - データ収集管理の仕様
SEMI E134 - データ収集管理の仕様 セール価格 Member Price : ¥113
F07900 - SEMI F79 - ガス分配コンポーネントに使用されるシリコンとのガス適合性に関するガイド
SEMI F79 - ガス分配コンポーネントに使用されるシリコンとのガス適合性に関するガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E12800 - SEMI E128 - XML メッセージ構造の仕様
SEMI E128 - XML メッセージ構造の仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05418 - SEMI E54.18 - 真空ポンプ機器専用のセンサー／アクチュエータネットワークのデバイスモデルの仕様
SEMI E54.18 - 真空ポンプ機器専用のセンサー／アクチュエータネットワークのデバイスモデルの仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
E04300 - SEMI E43 - 物体および表面の静電気測定のためのガイド
SEMI E43 - 物体および表面の静電気測定のためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05412 - SEMI E54.12 - CC-LINKのためのセンサー／アクチュエータ・ネットワーク通信に関する仕様
SEMI E54.12 - CC-LINKのためのセンサー／アクチュエータ・ネットワーク通信に関する仕様 セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
E14500 - SEMI E145 - XML における測定単位記号の分類
SEMI E145 - XML における測定単位記号の分類 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
D07500 - SEMI D75 - ディスプレイの色再現と知覚コントラストの試験方法
SEMI D75 - ディスプレイの色再現と知覚コントラストの試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E00500 - SEMI E5 - SEMI 機器通信規格 2 メッセージ内容の仕様 (SECS-II)
SEMI E5 - SEMI 機器通信規格 2 メッセージ内容の仕様 (SECS-II) セール価格 Member Price : ¥225
E07800 - SEMI E78 - 機器の静電気放電 (ESD) および静電気吸引 (ESA) を評価および制御するためのガイド
SEMI E78 - 機器の静電気放電 (ESD) および静電気吸引 (ESA) を評価および制御するためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E05417 - SEMI E54.17 - A-LINK のセンサー/アクチュエーター ネットワークの仕様
SEMI E54.17 - A-LINK のセンサー/アクチュエーター ネットワークの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E12900 - SEMI E129 - 半導体製造設備における静電気放電（ESD）の評価と制御へのガイド
SEMI E129 - 半導体製造設備における静電気放電（ESD）の評価と制御へのガイド セール価格Member Price: ¥135
Non-Member Price: ¥38,100
E05410 - SEMI E54.10 - In-Situ 粒子監視デバイス用のセンサー/アクチュエーター ネットワーク固有のデバイス モデルの仕様
SEMI E54.10 - In-Situ 粒子監視デバイス用のセンサー/アクチュエーター ネットワーク固有のデバイス モデルの仕様 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
E17600 - SEMI E176 - 半導体製造環境における電磁干渉 (EMI) を評価し、最小限に抑えるためのガイド
SEMI E176 - 半導体製造環境における電磁干渉 (EMI) を評価し、最小限に抑えるためのガイド セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900
F11200 - SEMI F112 - キャビティリングダウン分光法 (CRDS) による表面実装型および従来のガス供給システムの水分ドライダウン特性を測定するための試験方法
SEMI F112 - キャビティリングダウン分光法 (CRDS) による表面実装型および従来のガス供給システムの水分ドライダウン特性を測定するための試験方法 セール価格Member Price: ¥113
Non-Member Price: ¥31,900