SEMI Standards

SEMI Standards are voluntary technical agreements for the semiconductor, flat panel display, micro-electromechanical systems, photovoltaic, and high-brightness LED industries.

필터

정렬 기준::

상품 1625개

F04000 - SEMI F42 - 반도체 공정 장비 전압 저하 내성 테스트 방법
SEMI F42 - 반도체 공정 장비 전압 저하 내성 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
PV01500 - SEMI PV15 - 太陽電池材料の表面ラフネスおよび테크체챠を모니타스루타메の角度分解光散乱測定条件の定義に関するgaid
SEMI PV15 - 太陽電池材料の表面ラフネスおよび테크체챠を모니타스루타메の角度分解光散乱測定条件の定義に関するgaid 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
S01700 - SEMI S17 - 無人搬運車（UTV）系統之安全基準
SEMI S17 - 無人搬運車（UTV）系統之安全基準 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
S01300 - SEMI S13 - 製造装置과 共に使用する ことが意図された装置ユーザへの提供文書のための環境,健康,安全gaidline
SEMI S13 - 製造装置과 共に使用する ことが意図された装置ユーザへの提供文書のための環境,健康,安全gaidline 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
PV05400 - SEMI PV54 - 晶體硅太阳电池N型层接触用银浆技术规范
SEMI PV54 - 晶體硅太阳电池N型层接触用银浆技术规范 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05800 - SEMI M58 - DMAを基にしたパーティクル堆積systemto proses評価에 대한 시험 방법
SEMI M58 - DMAを基にしたパーティクル堆積systemto proses評価에 대한 시험 방법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M01700 - SEMI M17 - 일체형 웨하그리드 가이드
SEMI M17 - 일체형 웨하그리드 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G04300 - SEMI G43 - 프라스틱크모르드팍케이지노잘크션부와 케이스스노의 열전사노타메노조리법
SEMI G43 - 프라스틱크모르드팍케이지노잘크션부와 케이스스노의 열전사노타메노조리법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M05900 - SEMI M59 - 시리콘 기술의 用語集
SEMI M59 - 시리콘 기술의 用語集 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M06600 - SEMI M66 - MISFlattband 電圧―絶縁膜厚法を使った，酸化膜，およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出法
SEMI M66 - MISFlattband 電圧―絶縁膜厚法を使った，酸化膜，およびhigh-κゲートスタックの有効仕事関数の算出法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M07700 - SEMI M77 - 로르오후량(ROA)(ROA)を使ってウェーハの엣지近傍形状を決定するための作業方法
SEMI M77 - 로르오후량(ROA)(ROA)を使ってウェーハの엣지近傍形状を決定するための作業方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI용 시리콘・온・인슈레이타(SOI) 웨하노타메 사양
SEMI M71 - CMOS LSI용 시리콘・온・인슈레이타(SOI) 웨하노타메 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M04200 - SEMI M42 - 화합물화합물체 에피타키샤르웨하노사
SEMI M42 - 화합물화합물체 에피타키샤르웨하노사 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M06500 - SEMI M65 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하에 사용하는 사파이아기모의 仕様
SEMI M65 - 화합물 半導체 에피타키샤르웨하에 사용하는 사파이아기모의 仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
G05500 - SEMI G55 - 리드후레임 차광 강도의 결정 방식
SEMI G55 - 리드후레임 차광 강도의 결정 방식 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M04000 - SEMI M40 - 시리콘 웨하 화면의 라후네스 확정 가이드
SEMI M40 - 시리콘 웨하 화면의 라후네스 확정 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M06000 - SEMI M60 - SiO2의 종시계를 위한 시리콘 웨하 웨어러블의 経時絶縁破壊特性の試験方法
SEMI M60 - SiO2의 종시계를 위한 시리콘 웨하 웨어러블의 経時絶縁破壊特性の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M04600 - SEMI M46 - ECV 법에 따라 에피타키시야의 캘리 아 인 도 프로 파 일을 확신 하는 방법
SEMI M46 - ECV 법에 따라 에피타키시야의 캘리 아 인 도 프로 파 일을 확신 하는 방법 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M06800 - SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのedge近傍形状を決定するため의 作業方法
SEMI M68 - 測定した高さデータ配列から曲率法ZDDを使ってウェーハのedge近傍形状を決定するため의 作業方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M06400 - SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトル法による絶縁(SI)가리움히素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法
SEMI M64 - 赤外線吸収スペクトル法による絶縁(SI)가리움히素単結晶内のEL2深いドナー濃度の試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M03500 - SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのgaid
SEMI M35 - 自動検査により検出されるシリコンウェーハ表面特性の仕様を開発するためのgaid 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M06100 - SEMI M61 - 埋め込み層付き시리콘에피타키샤르웨하노 사양
SEMI M61 - 埋め込み層付き시리콘에피타키샤르웨하노 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M05400 - SEMI M54 - 半絶縁性(SI)GaAs계 파라메타 가이드
SEMI M54 - 半絶縁性(SI)GaAs계 파라메타 가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
M01600 - SEMI M16 - 다전 시리즈 사양
SEMI M16 - 다전 시리즈 사양 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩347,000
View All