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G06300 - SEMI G63 - 다이 전단 강도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G63 - 다이 전단 강도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF067100 - SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF671 - 실리콘 및 기타 전자 재료의 웨이퍼에서 평면 길이 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M03800 - SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M38 - 광택 재생 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G02400 - SEMI G24 - 패키지 리드의 리드 간 및 로딩 커패시턴스 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G24 - 패키지 리드의 리드 간 및 로딩 커패시턴스 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF161700 - SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1617 - 2차 이온 질량 분석법으로 실리콘 및 EPI 기판의 표면 나트륨, 알루미늄, 칼륨 및 철 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M05100 - SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법
SEMI M51 - 게이트 산화물 무결성으로 실리콘 웨이퍼를 특성화하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF177100 - SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법
SEMI MF1771 - 전압 램프 기술에 의한 게이트 산화물 무결성 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G05100 - SEMI G51 - 플라스틱 성형(미터법) 쿼드 플랫 팩 리드프레임 사양
SEMI G51 - 플라스틱 성형(미터법) 쿼드 플랫 팩 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F02000 - SEMI F20 - 범용, 고순도 및 초고순도 반도체 제조 응용 분야에 사용되는 부품용 316L 스테인리스 스틸 바, 단조품, 압출 성형품, 플레이트 및 튜브 사양
SEMI F20 - 범용, 고순도 및 초고순도 반도체 제조 응용 분야에 사용되는 부품용 316L 스테인리스 스틸 바, 단조품, 압출 성형품, 플레이트 및 튜브 사양 할인 가격Member Price: ₩225
Non-Member Price: ₩571,000
G06700 - SEMI G67 - 시트 재료의 입자 생성 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G67 - 시트 재료의 입자 생성 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G09400 - SEMI G94 - 300mm 웨이퍼용 코인 스택형 테이프 프레임 운송 컨테이너 사양
SEMI G94 - 300mm 웨이퍼용 코인 스택형 테이프 프레임 운송 컨테이너 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G02100 - SEMI G21 - 집적 회로 리드프레임 도금 사양
SEMI G21 - 집적 회로 리드프레임 도금 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G09500 - SEMI G95 - 백엔드 공정에서 테이프 프레임 카세트용 450mm 로드 포트의 기계적 기능 사양
SEMI G95 - 백엔드 공정에서 테이프 프레임 카세트용 450mm 로드 포트의 기계적 기능 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F05500 - SEMI F55 - 질량 흐름 컨트롤러의 내식성을 결정하기 위한 테스트 방법
SEMI F55 - 질량 흐름 컨트롤러의 내식성을 결정하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G08200 - SEMI G82 - 백엔드 프로세스의 프레임 카세트용 300mm 로드 포트 사양
SEMI G82 - 백엔드 프로세스의 프레임 카세트용 300mm 로드 포트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
HB00600 - SEMI HB6 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 두께 및 형상 측정을 위한 테스트 방법
SEMI HB6 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 두께 및 형상 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF176300 - SEMI MF1763 - 선형 편광판의 콘트라스트 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1763 - 선형 편광판의 콘트라스트 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
F06900 - SEMI F69 - 가스 전달 시스템의 운송 및 충격 테스트를 위한 테스트 방법
SEMI F69 - 가스 전달 시스템의 운송 및 충격 테스트를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF015400 - SEMI MF154 - 경면 실리콘 표면에서 보이는 구조 및 오염 물질 식별을 위한 가이드
SEMI MF154 - 경면 실리콘 표면에서 보이는 구조 및 오염 물질 식별을 위한 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
G06800 - SEMI G68 - 반도체 패키지의 공기 환경에서 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G68 - 반도체 패키지의 공기 환경에서 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
M07300 - SEMI M73 - 측정된 웨이퍼 에지 프로파일에서 관련 특성을 추출하기 위한 테스트 방법
SEMI M73 - 측정된 웨이퍼 에지 프로파일에서 관련 특성을 추출하기 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF104800 - SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법MF104800 - SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법
SEMI MF1048 - 반사 총 통합 산란 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF172700 - SEMI MF1727 - 연마된 실리콘 웨이퍼에서 산화로 인한 결함 감지를 위한 실습
SEMI MF1727 - 연마된 실리콘 웨이퍼에서 산화로 인한 결함 감지를 위한 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
MF152700 - SEMI MF1527 - 실리콘의 비저항 측정 기기의 교정 및 제어를 위한 인증된 기준 물질 및 기준 웨이퍼 적용 안내서
SEMI MF1527 - 실리콘의 비저항 측정 기기의 교정 및 제어를 위한 인증된 기준 물질 및 기준 웨이퍼 적용 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩290,000
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