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MF213900 - SEMI MF2139 - 2차 이온 질량분석법으로 실리콘 기판의 질소 농도를 측정하는 테스트 방법
HB00700 - SEMI HB7 - 광학 프로브를 사용하여 결정질 사파이어 웨이퍼의 파형 측정을 위한 테스트 방법
M05600 - SEMI M56 - 측정 변동성 및 편향으로 인한 계측 장비의 비용 구성 요소 결정을 위한 실습
G05700 - SEMI G57 - 리드프레임 용어 표준화 가이드
SEMI G57 - 리드프레임 용어 표준화 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07300 - SEMI G73 - 와이어 본딩을 위한 인장 강도 테스트 방법
SEMI G73 - 와이어 본딩을 위한 인장 강도 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F02200 - SEMI F22 - 벌크 및 특수 가스 분배 시스템 가이드
SEMI F22 - 벌크 및 특수 가스 분배 시스템 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G05900 - SEMI G59 - 리드프레임 인터리핑의 이온 오염 측정 및 인터리핑에서 리드프레임으로 전달된 오염을 측정하기 위한 테스트 방법
G07500 - SEMI G75 - 리드프레임 테이프 속성의 표준 테스트 방법
SEMI G75 - 리드프레임 테이프 속성의 표준 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G08700 - SEMI G87 - 300mm 웨이퍼용 플라스틱 테이프 프레임 사양
SEMI G87 - 300mm 웨이퍼용 플라스틱 테이프 프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G05200 - SEMI G52 - 반도체 리드프레임의 이온 오염 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G52 - 반도체 리드프레임의 이온 오염 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
HB00300 - SEMI HB3 - 150mm HB-LED 로드 포트용 기계적 인터페이스 사양
SEMI HB3 - 150mm HB-LED 로드 포트용 기계적 인터페이스 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
HB00200 - SEMI HB2 - HB-LED 장치 제조용 150mm 개방형 플라스틱 및 금속 웨이퍼 카세트 사양
F02600 - SEMI F26 - 등급 10/0.2 독성 특수 가스의 입자 농도 사양
SEMI F26 - 등급 10/0.2 독성 특수 가스의 입자 농도 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04400 - SEMI M44 - 실리콘의 침입형 산소에 대한 변환 계수 가이드
SEMI M44 - 실리콘의 침입형 산소에 대한 변환 계수 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G01800 - SEMI G18 - 에칭 리드프레임 생산에 사용되는 집적 회로 리드프레임 재료 사양
G07000 - SEMI G70 - 프라스틱크팍케이지리드후레임정정용 장사슬리드후레임支持具の스탄다드
M01600 - SEMI M16 - 다결정 실리콘 사양
SEMI M16 - 다결정 실리콘 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09200 - SEMI G92 - 450mm 웨이퍼용 테이프 프레임 카세트 사양
SEMI G92 - 450mm 웨이퍼용 테이프 프레임 카세트 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M08200 - SEMI M82 - 적외선 흡수 분광법에 의한 반 절연 갈륨 비소 단결정의 탄소 수용체 농도에 대한 테스트 방법
M07100 - SEMI M71 - CMOS LSI용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양
SEMI M71 - CMOS LSI용 SOI(Silicon-on-Insulator) 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF139000 - SEMI MF1390 - 자동 비접촉 스캐닝으로 실리콘 웨이퍼의 휨 및 휨을 측정하는 테스트 방법
G07100 - SEMI G71 - 포장재 중간 용기의 바코드 마킹 사양
SEMI G71 - 포장재 중간 용기의 바코드 마킹 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06700 - SEMI M67 - ESFQR, ESFQD 및 ESBIR 메트릭을 사용하여 측정된 두께 데이터 어레이에서 웨이퍼 니어 에지 형상을 결정하기 위한 테스트 방법
F05400 - SEMI F54 - 응축 핵 계수기의 계수 효율 측정을 위한 테스트 방법
SEMI F54 - 응축 핵 계수기의 계수 효율 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
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