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MF039100 - SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법
SEMI MF391 - 정상 상태 표면 광전압 측정에 의한 외부 반도체의 소수 캐리어 확산 길이 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
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M00600 - SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様
SEMI M6 - 太陽光電池用 シリコンウェーハの仕様 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩271,000
MF207400 - SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드
SEMI MF2074 - 실리콘 및 기타 반도체 웨이퍼의 직경 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
HB00800 - SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법
SEMI HB8 - 사파이어 단결정의 방향 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F07000 - SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법
SEMI F70 - 가스 전달 시스템의 입자 기여 결정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF152800 - SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법
SEMI MF1528 - 2차 이온 질량 분석법으로 고농도 도핑된 N형 실리콘 기판의 붕소 오염을 측정하는 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G04100 - SEMI G41 - 듀얼 스트립 SOIC 리드프레임 사양
SEMI G41 - 듀얼 스트립 SOIC 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09300 - SEMI G93 - 보르・그릿드・아레이(BGA)팍케이지용 はんだボールの測定方法
SEMI G93 - 보르・그릿드・아레이(BGA)팍케이지용 はんだボールの測定方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
MF172600 - SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습
SEMI MF1726 - 실리콘 웨이퍼의 결정학적 완전성 분석 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF181100 - SEMI MF1811 - 표면 프로필 데이터에서 전력 스펙트럼 밀도 함수 및 관련 마감 매개변수를 추정하기 위한 안내서
SEMI MF1811 - 표면 프로필 데이터에서 전력 스펙트럼 밀도 함수 및 관련 마감 매개변수를 추정하기 위한 안내서 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M05700 - SEMI M57 - 실리콘 열처리 웨이퍼 사양
SEMI M57 - 실리콘 열처리 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
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M04400 - SEMI M44 - 시리콘중의 酸素の換算係数가이드
SEMI M44 - 시리콘중의 酸素の換算係数가이드 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
M08700 - SEMI M87 - 반절연 반도체의 비접촉 비저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M87 - 반절연 반도체의 비접촉 비저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
F07600 - SEMI F76 - 부식성 가스에 노출된 가스 시스템 구성 요소의 입자 기여 평가를 위한 테스트 방법
SEMI F76 - 부식성 가스에 노출된 가스 시스템 구성 요소의 입자 기여 평가를 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02900 - SEMI G29 - 몰딩 컴파운드의 미량 오염 물질에 대한 테스트 방법
SEMI G29 - 몰딩 컴파운드의 미량 오염 물질에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02800 - SEMI G28 - 플라스틱 성형 SO 패키지용 리드프레임 사양
SEMI G28 - 플라스틱 성형 SO 패키지용 리드프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02300 - SEMI G23 - 반도체 패키지의 내부 트레이스에 대한 인덕턴스 테스트 방법
SEMI G23 - 반도체 패키지의 내부 트레이스에 대한 인덕턴스 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF163000 - SEMI MF1630 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 저온 FT-IR 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1630 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 저온 FT-IR 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M04300 - SEMI M43 - 웨이퍼 나노토포그래피 보고 가이드
SEMI M43 - 웨이퍼 나노토포그래피 보고 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
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MF115200 - SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법
SEMI MF1152 - 실리콘 웨이퍼의 노치 치수 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02400 - SEMI G24 - 팍케이지・리드間の容量および付加容量の測定のための試験方法
SEMI G24 - 팍케이지・리드間の容量および付加容量の測定のための試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
ME139200 - SEMI ME1392 - Specular 또는 Diffuse Surfaces에서 Angle Resolved Optical Scatter 측정 가이드
SEMI ME1392 - Specular 또는 Diffuse Surfaces에서 Angle Resolved Optical Scatter 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M08500 - SEMI M85 - 유도 결합 플라즈마 질량분석법을 통한 실리콘 웨이퍼 표면의 미량 금속 오염 측정 가이드
SEMI M85 - 유도 결합 플라즈마 질량분석법을 통한 실리콘 웨이퍼 표면의 미량 금속 오염 측정 가이드 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF072800 - SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습
SEMI MF728 - 치수 측정을 위한 광학 현미경 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
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