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M02300 - SEMI M23 - 연마된 단결정 인듐 인화물 웨이퍼 사양
SEMI M23 - 연마된 단결정 인듐 인화물 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G00400 - SEMI G4 - 스탬핑 리드프레임 생산에 사용되는 집적 회로 리드프레임 재료 사양
SEMI G4 - 스탬핑 리드프레임 생산에 사용되는 집적 회로 리드프레임 재료 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF067400 - SEMI MF674 - 확산 저항 측정을 위한 실리콘 준비 실습
SEMI MF674 - 확산 저항 측정을 위한 실리콘 준비 실습 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF092800 - SEMI MF928 - 원형 반도체 웨이퍼 및 경질 디스크 기판의 에지 윤곽에 대한 테스트 방법
SEMI MF928 - 원형 반도체 웨이퍼 및 경질 디스크 기판의 에지 윤곽에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06000 - SEMI M60 - Si 웨이퍼 평가를 위한 SiO2 필름의 시간 종속 유전체 파괴 특성에 대한 테스트 방법
SEMI M60 - Si 웨이퍼 평가를 위한 SiO2 필름의 시간 종속 유전체 파괴 특성에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
HB01000 - SEMI HB10 - HB-LED 웨이퍼 제조용 단결정 사파이어 사양
SEMI HB10 - HB-LED 웨이퍼 제조용 단결정 사파이어 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07400 - SEMI G74 - 300mm 웨이퍼용 테이프 프레임 사양
SEMI G74 - 300mm 웨이퍼용 테이프 프레임 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
PV08800 - SEMI PV88 - 불활성 기체 융합 적외선 흡수 방법에 의한 광전지(PV) 폴리실리콘의 수소 측정을 위한 테스트 방법
SEMI PV88 - 불활성 기체 융합 적외선 흡수 방법에 의한 광전지(PV) 폴리실리콘의 수소 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
PV02100 - SEMI PV21 - 실란(SiH4)용 가이드, 태양광 애플리케이션에 사용PV02100 - SEMI PV21 - 실란(SiH4)용 가이드, 태양광 애플리케이션에 사용
SEMI PV21 - 실란(SiH4)용 가이드, 태양광 애플리케이션에 사용 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02500 - SEMI G25 - 패키지 리드의 저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G25 - 패키지 리드의 저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M08300 - SEMI M83 - III-V 화합물 반도체의 단결정에서 전위 에칭 피트 밀도 측정을 위한 테스트 방법
SEMI M83 - III-V 화합물 반도체의 단결정에서 전위 에칭 피트 밀도 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격 Member Price : ₩113
M08400 - SEMI M84 - 갈륨 질화물-온-실리콘 애플리케이션용 연마 단결정 실리콘 웨이퍼 사양
SEMI M84 - 갈륨 질화물-온-실리콘 애플리케이션용 연마 단결정 실리콘 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF198200 - SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1982 - 열 탈착 가스 크로마토그래피에 의한 실리콘 웨이퍼 표면의 유기 오염 물질 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G07000 - SEMI G70 - 플라스틱 패키지 리드프레임 측정을 위한 장비 및 리드프레임 고정 장치용 표준
SEMI G70 - 플라스틱 패키지 리드프레임 측정을 위한 장비 및 리드프레임 고정 장치용 표준 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M07400 - SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양
SEMI M74 - 450mm 직경의 기계적 취급 광택 웨이퍼 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G02500 - SEMI G25 - 팍케이지・리드抵抗の測定のための試験方法
SEMI G25 - 팍케이지・리드抵抗の測定のための試験方法 할인 가격Member Price: ₩135
Non-Member Price: ₩348,000
G06600 - SEMI G66 - 반도체 플라스틱 몰딩 컴파운드의 수분 흡수 특성 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G66 - 반도체 플라스틱 몰딩 컴파운드의 수분 흡수 특성 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF138900 - SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법
SEMI MF1389 - III-V 불순물에 대한 단결정 실리콘의 광발광 분석을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G04300 - SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법
SEMI G43 - 성형 플라스틱 패키지의 접합부-케이스 열 저항 측정을 위한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G09600 - SEMI G96 - 캔틸레버 벤딩을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법
SEMI G96 - 캔틸레버 벤딩을 통한 칩(다이) 강도 측정 테스트 방법 할인 가격 Member Price : ₩113
MF139100 - SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법
SEMI MF1391 - 적외선 흡수에 의한 실리콘의 치환원자탄소 함량 시험방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
MF138800 - SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법
SEMI MF1388 - MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터의 커패시턴스-시간 측정에 의한 실리콘 재료의 생성 수명 및 생성 속도에 대한 테스트 방법 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
G08900 - SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양
SEMI G89 - 리드프레임 스트립 크기 사양 할인 가격Member Price: ₩113
Non-Member Price: ₩291,000
M06200 - SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양
SEMI M62 - 실리콘 에피택시 웨이퍼 사양 할인 가격 Member Price : ₩113
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